硬件獨特性:雙屏顯示設計，造型時尚，帶多節點預啟動裝置和實時監控系統；已集成計算機，無需再外接電腦，計算機采用觸屏設計，操作流暢便捷；加裝自動防輻射泄漏裝置，主動性的保證使用人員安全；內置打印機，計算方便快捷；獨具短信報錯功能，操作是否符合規范一目了然；超高的分辨率可輕松解決貴金屬行業無損分析的任何復雜要求，為貴金屬行業性價比的光譜儀。（咨詢廖）
軟件優越性：XRF8.0菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算系統；軟件除能顯示金屬百分比純度外，亦可顯示黃金K值；軟件可自動重復檢測，自動測算多次檢測的均值；計算的打印格式多樣化，完全滿足客戶各種形式的打印要求。
激發源：Mo靶的X光管 風冷 (無輻射）
探測器：Si-PIN 探測器(美國)
高壓裝置：美國進口高壓裝置
其它規格：
電壓：交流220V/50Hz
功率:144W
處尺寸:430mm*635mm*310mm
重量:21kg
技術指標：
分析范圍：0.001% ～ 99.999%
測量時間：自適應
測量：± 10ppm ～ 0.1%
分辨率 ：149Kev ± 5
測試環境：常溫常態
分析元素：除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外，該型號還能對從Na至U的70多種元素進行分析，實為貴金屬行業常量分析中的實驗室級光譜儀。
X射線源：X射線光管
高壓器：0～50Kv
操作系統:Windows2000/Me/XP
鍍層測量：
鍍層厚度范圍<30μm
測量層數：5層
測量：0.03μm
