38DL PLUS的標準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能，以及一些于某些應用的軟件選項。其密封機殼的設計合IP67評級要求，可以抵御其潮濕或多沙塵的嚴酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在的黑暗中具有的可視性。測厚儀的鍵區(qū)既簡潔又合人體工程學的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問功能。主要特性? 可與雙晶和單晶探頭兼容。
? 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
? 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
? 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
? 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
? 對于探頭，標準分辨率為0.01毫米。
? 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
? 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
? 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 厚度、聲速和渡越時間測量。
? 差分模式和縮減率模式。
? 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
? 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
? 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
? 設計合EN15317標準。這款測厚儀與其他測厚儀有何不同？38DL PLUS測厚儀的設計宗旨是滿足苛刻的應用要求，而且可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現(xiàn)場多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進行檢測工作。如果您需要一款撞擊、墜落、堅固結(jié)實的測厚儀器，那么，合IP67評級標準、帶有橡膠保護套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。抵御惡劣環(huán)境的能力? 袖珍型，重0.814公斤。
? 堅固耐用，設計合IP67標準。
? 性氣氛：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試，可在火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組中定義的性氣氛環(huán)境中操作。
? 撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
? 振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
? 寬泛的工作溫度范圍。
? 帶有支架的橡膠保護套。
? 彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設置，具有的清晰度。簡便操作的設計理念
? 可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區(qū)。
? 可直接訪問功能的簡便易行的操作界面。
? 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
? U和RS-232通訊端口。
? 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
? 可連接計算機或顯示器的VGA輸出。
? 默認或自定義雙晶探頭設置。
? 默認或自定義單晶探頭設置。
? 保護功能可以鎖住儀器的功能。? 20位字的ID# （TML#）編碼。
? 9個文件格式：增量型、序列型、帶自定義點的序列型、2-D柵格型、帶自定義點的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動型。
? 每個ID# （TML）編碼可多存儲4個注釋。
? 注釋可存儲到一個ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上。
? 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
? 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡之間拷貝文件。
? 標準U和RS-232通信。
? 單晶和雙晶探頭設置的雙向傳輸。
? 機載統(tǒng)計。
? 機載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
? GageView接口程序通過U或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲卡上寫入信息。
? 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式直接導出到MicroSD存儲卡。數(shù)據(jù)記錄器和PC機接口38DL PLUS測厚儀帶有一個功能的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
? 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。
? 32位字的文件名稱。
GageView?? 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測厚儀的數(shù)據(jù)。
? 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)。
? 編輯所存數(shù)據(jù)。
? 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件，文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設置值及探頭設置值。
? 從測厚儀上厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀。
? 將測量總結(jié)導出到電子表格及其他程序。
? 收集捕獲的屏幕。
? 打印有關(guān)厚度、設置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的。
? 升級操作軟件。
? 和上傳單晶和雙晶探頭設置文件。
? B掃描回顧標準配置38DL PLUS數(shù)字式聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標準雙晶探頭套裝盒
? 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
? 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
? GageView接口程序
? 試塊和耦合劑
? U線纜
? 橡膠保護套，帶有支架和頸掛帶
? 用戶手冊
? 兩年有限
測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、小值/值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調(diào)用應用、溫度補償、平均值/小值模式 技術(shù)規(guī)格
軟件選項38DLP-OXIDE （U）：使用編碼激活的內(nèi)部氧化層測量軟件。
38DLP-HR （U）：使用編碼激活的高分辨率測量軟件。
38DLP-MM （U）：使用編碼激活的多層測量軟件。
38DLP-HP （U）：使用編碼激活的高穿透（低頻）測量軟件。選購附件38DLP/EW （U）：3年保修。
1/2XA/E110 （U）：用于E110- EMAT探頭的濾波器適配器。
38-9F6 （U）：RS-232線纜
38-C-U-IP67 （U）：U線纜，用于合IP67標準的密封操作。
38DLP/RFS （U）：腳踏開關(guān)，廠內(nèi)安裝。
HPV/C （U）：數(shù)字式卡尺線纜，用于在測量聲速時進行厚度輸入。
38DLP-V-CC （U）： 數(shù)字式卡尺線纜。
38DLP/BCW/NC （U）：棒材編碼讀取器。
EPLTC-C-VGA-6 （U）：VGA輸出線纜。
MICROSD-ADP-2GB （U）：2 GB外置MicroSD存儲卡。對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進行厚度測量38DL PLUS測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應用中常使用的是雙晶探頭。
? 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。
? 10個自定義雙晶探頭設置。
? 校準過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認增益。
? 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
? 校準過程中出現(xiàn)回波時使用的校準功能。
? 用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
? 高溫測量：溫度可500°C。
? 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項），使用M2017或M2091單晶探頭。
? EMAT探頭（E110-），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進行不使用耦合劑的厚度測量。穿透涂層技術(shù) 使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。溫度補償材料中的溫度差異會影響材料聲速和厚度測量的性。用戶使用溫度補償功能可以手動輸入校準試塊的溫度值和測量時的實際（高）溫度值。38DL PLUS自動顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。氧化層/沉積物測量（可選項）38DL PLUS使用算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預測管件的壽命。建議在此項應用中使用M2017或M2091探頭。V聲程創(chuàng)建功能用戶使用這項正等待通過的新功能可以為幾乎雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設置時，這條曲線也被同時保存和調(diào)用。用戶校準并輸入已知厚度值（小3個校準點；10個校準點），儀器就會創(chuàng)建V聲程補償曲線。自動探頭識別標準的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每種不同類型的探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量用戶使用單晶探頭可以測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率為0.001毫米的其的厚度測量。
? 對于探頭，標準分辨率為0.01毫米。
? 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項可顯示分辨率0.001毫米的測量值。
? 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 多層軟件選項可對多達4個不同層的厚度同時進行測量。
? 測量厚度、聲速或渡越時間。
? 帶有默認和自定義設置的自動調(diào)用應用簡化了厚度測量。高穿透軟件選項用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。多層軟件選項這個軟件選項計算并同時顯示多達4個不同層的厚度測量值。 這個功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預成型坯及軟性隱型眼睛進行的厚度測量。奧林巴斯Olympus 38DL PLUS 聲波測厚儀38DL PLUS是一款聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進行檢測。其性能包含THRU-T®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、厚材料以及多層材料進行的厚度測量。38DL PLUS聲測厚儀：
性能、操作簡便、堅固耐用、結(jié)果
? 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
? 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
? 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
? 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
? 對于探頭，標準分辨率為0.01毫米。
? 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
? 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
? 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 厚度、聲速和渡越時間測量。
? 差分模式和縮減率模式。
? 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
? 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
? 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
? 設計合EN15317標準。這款測厚儀與其他測厚儀有何不同？38DL PLUS測厚儀的設計宗旨是滿足苛刻的應用要求，而且可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現(xiàn)場多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進行檢測工作。如果您需要一款撞擊、墜落、堅固結(jié)實的測厚儀器，那么，合IP67評級標準、帶有橡膠保護套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。抵御惡劣環(huán)境的能力? 袖珍型，重0.814公斤。
? 堅固耐用，設計合IP67標準。
? 性氣氛：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試，可在火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組中定義的性氣氛環(huán)境中操作。
? 撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
? 振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
? 寬泛的工作溫度范圍。
? 帶有支架的橡膠保護套。
? 彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設置，具有的清晰度。簡便操作的設計理念
| 戶外顯示設置，A掃描模式 | 室內(nèi)顯示設置，B掃描模式 |
? 可直接訪問功能的簡便易行的操作界面。
? 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
? U和RS-232通訊端口。
? 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
? 可連接計算機或顯示器的VGA輸出。
? 默認或自定義雙晶探頭設置。
? 默認或自定義單晶探頭設置。
? 保護功能可以鎖住儀器的功能。? 20位字的ID# （TML#）編碼。
? 9個文件格式：增量型、序列型、帶自定義點的序列型、2-D柵格型、帶自定義點的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動型。
? 每個ID# （TML）編碼可多存儲4個注釋。
? 注釋可存儲到一個ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上。
? 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
? 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡之間拷貝文件。
? 標準U和RS-232通信。
? 單晶和雙晶探頭設置的雙向傳輸。
? 機載統(tǒng)計。
? 機載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
? GageView接口程序通過U或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲卡上寫入信息。
? 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式直接導出到MicroSD存儲卡。數(shù)據(jù)記錄器和PC機接口38DL PLUS測厚儀帶有一個功能的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
? 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。
? 32位字的文件名稱。
GageView?? 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測厚儀的數(shù)據(jù)。
? 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)。
? 編輯所存數(shù)據(jù)。
? 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件，文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設置值及探頭設置值。
? 從測厚儀上厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀。
? 將測量總結(jié)導出到電子表格及其他程序。
? 收集捕獲的屏幕。
? 打印有關(guān)厚度、設置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的。
? 升級操作軟件。
? 和上傳單晶和雙晶探頭設置文件。
? B掃描回顧標準配置38DL PLUS數(shù)字式聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標準雙晶探頭套裝盒
? 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
? 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
? GageView接口程序
? 試塊和耦合劑
? U線纜
? 橡膠保護套，帶有支架和頸掛帶
? 用戶手冊
? 兩年有限
測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、小值/值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調(diào)用應用、溫度補償、平均值/小值模式 技術(shù)規(guī)格
| 測量 | |
| 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的到個回波之間的時間間隔。 |
| 穿透涂層測量模式 | 利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。 |
| 穿透漆層回波到回波測量模式 | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
| 單晶探頭測量模式 | 模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。 模式2：延遲線回波與個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。 模式3：在激勵脈沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。 氧化層模式：可選。 多層模式：可選。 |
| 厚度范圍 | 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。 |
| 材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
| 分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米 標準分辨率：0.01毫米 高分辨率（可選項）：0.001毫米 |
| 探頭頻率范圍 | 標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） 高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
| 一般規(guī)格 | |
| 工作溫度范圍 | -10°C～50°C |
| 鍵區(qū) | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。 |
| 機殼 | 撞擊、水、裝有密封墊的機殼；機殼上的接口密封。設計合IP67標準。 |
| 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米 |
| 重量 | 0.814公斤 |
| 電源 | AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節(jié)AA輔助電池。 |
| 鋰離子電池供電時間 | 工作時間：少12.6小時，一般14小時，多14.7小時。快速充電：2小時到3小時。 |
| 標準 | 設計合EN15317標準。 |
| 顯示 | |
| 彩色透反VGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米 |
| 檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波 |
| 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器 | |
| 數(shù)據(jù)記錄器 | 38DL PLUS通過標準RS-232串口或U端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
| 容量 | 475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形。 |
| 文件名稱、ID編碼及注釋 | 32位字的文件名，20位字的字母數(shù)字位碼，每個位有四個注釋。 |
| 文件結(jié)構(gòu) | 9個標準的或自定義的用于特定應用的文件結(jié)構(gòu)。 |
| 機載總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計、帶有位置信息的小值/值、小值回顧、文件比較及報警。 | |
38DLP-HR （U）：使用編碼激活的高分辨率測量軟件。
38DLP-MM （U）：使用編碼激活的多層測量軟件。
38DLP-HP （U）：使用編碼激活的高穿透（低頻）測量軟件。選購附件38DLP/EW （U）：3年保修。
1/2XA/E110 （U）：用于E110- EMAT探頭的濾波器適配器。
38-9F6 （U）：RS-232線纜
38-C-U-IP67 （U）：U線纜，用于合IP67標準的密封操作。
38DLP/RFS （U）：腳踏開關(guān)，廠內(nèi)安裝。
HPV/C （U）：數(shù)字式卡尺線纜，用于在測量聲速時進行厚度輸入。
38DLP-V-CC （U）： 數(shù)字式卡尺線纜。
38DLP/BCW/NC （U）：棒材編碼讀取器。
EPLTC-C-VGA-6 （U）：VGA輸出線纜。
MICROSD-ADP-2GB （U）：2 GB外置MicroSD存儲卡。對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進行厚度測量38DL PLUS測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應用中常使用的是雙晶探頭。
? 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。
? 10個自定義雙晶探頭設置。
? 校準過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認增益。
? 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
? 校準過程中出現(xiàn)回波時使用的校準功能。
? 用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
? 高溫測量：溫度可500°C。
? 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項），使用M2017或M2091單晶探頭。
? EMAT探頭（E110-），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進行不使用耦合劑的厚度測量。穿透涂層技術(shù) 使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。溫度補償材料中的溫度差異會影響材料聲速和厚度測量的性。用戶使用溫度補償功能可以手動輸入校準試塊的溫度值和測量時的實際（高）溫度值。38DL PLUS自動顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。氧化層/沉積物測量（可選項）38DL PLUS使用算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預測管件的壽命。建議在此項應用中使用M2017或M2091探頭。V聲程創(chuàng)建功能用戶使用這項正等待通過的新功能可以為幾乎雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設置時，這條曲線也被同時保存和調(diào)用。用戶校準并輸入已知厚度值（小3個校準點；10個校準點），儀器就會創(chuàng)建V聲程補償曲線。自動探頭識別標準的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每種不同類型的探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量用戶使用單晶探頭可以測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率為0.001毫米的其的厚度測量。
? 對于探頭，標準分辨率為0.01毫米。
? 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項可顯示分辨率0.001毫米的測量值。
? 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 多層軟件選項可對多達4個不同層的厚度同時進行測量。
? 測量厚度、聲速或渡越時間。
? 帶有默認和自定義設置的自動調(diào)用應用簡化了厚度測量。高穿透軟件選項用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。多層軟件選項這個軟件選項計算并同時顯示多達4個不同層的厚度測量值。 這個功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預成型坯及軟性隱型眼睛進行的厚度測量。奧林巴斯Olympus 38DL PLUS 聲波測厚儀38DL PLUS是一款聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進行檢測。其性能包含THRU-T®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、厚材料以及多層材料進行的厚度測量。38DL PLUS聲測厚儀：
性能、操作簡便、堅固耐用、結(jié)果
