CHERSCOPE X-RAY XULM是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于測量細小部件上的鍍層厚度和成分分析。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
特點:用途廣泛的鍍層厚度測量儀
通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進行同樣效果的測量.
配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點
比例計數器可實現數千cps（每秒計數率）的高計數率
從下至上的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品。
底部C型開槽的大容量測量艙
典型應用領域:測量線路板工業中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層
電子行業中接插件和觸點上的鍍層
裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
電鍍鍍層，如大規模生產件（螺栓和螺母）上的腐蝕保護層Zn/Fe，ZnNi/Fe
珠寶和鐘表工業
測量電鍍液中金屬成分含量
XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。本款儀器適合用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
