波長(zhǎng)范圍：

450-750nm

特點(diǎn)&優(yōu)勢(shì) 1.市面上一臺(tái)使用單光源輸入的瞬態(tài)光譜儀，運(yùn)用市面上效率的OPA，達(dá)到寬的泵浦和探測(cè)范圍 2. 大多數(shù)競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品使用掃描式系統(tǒng)，即使在探測(cè)寬度達(dá)到400-1900nm的范圍，我們也只使用單發(fā)射檢測(cè)方案。   選配可調(diào)節(jié)泵浦230-22,000nm 多頻率白光持續(xù)探測(cè) 掃描范圍2ns 信噪比＜0.2mOD 包含完整OPA   界面直觀 時(shí)間零點(diǎn)探測(cè) 數(shù)據(jù)錄入 兼容NI LabView 白光連續(xù)切斷校正 信號(hào)優(yōu)化在線校準(zhǔn)     參數(shù)

泵浦	泵浦源	Palitra-FS
	泵浦光譜范圍	230-22,000nm
探測(cè)	探測(cè)光源	白光持續(xù)
	探測(cè)光譜范圍	450-750nm
延遲線	掃描范圍	-0.1...1.9ns
	時(shí)間分辨	3.3fs
檢測(cè)	檢測(cè)類型	Si CCD 光譜儀
	探測(cè)光譜范圍	450-750nm
	探測(cè)光譜分辨率	〈 150cm-1
樣品區(qū)	樣品空間	12．7*12.7cm
	類型	透射和反射
系統(tǒng)	達(dá)到時(shí)間S/N〈0.2MOD( 〉10,000:1)	〈2秒
	100個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)掃描測(cè)量時(shí)間	〈10分鐘
	時(shí)間分辨	〈200fs
大小	光學(xué)頭（長(zhǎng)*寬*高）	81.3*52.4*26.7cm
重量		90Kg
冷卻		無(wú)需冷卻
電環(huán)境		100-240VAC;5V@50/6OHZ
控制界面	用戶界面	軟件 inspect command
環(huán)境	操作溫度范圍	25-35℃
	相對(duì)濕度	〈 60%，無(wú)冷凝

    瞬態(tài)吸收光譜儀通過(guò)“泵浦”來(lái)激發(fā)分子體系從而探索分子性質(zhì)，并且在一個(gè)給定時(shí)間延遲后，通過(guò)探測(cè)脈沖了解體系狀態(tài)。   inSpect-TA是一款可調(diào)配寬瞬態(tài)測(cè)量范圍的瞬態(tài)光譜儀。靈活的模塊設(shè)計(jì)可以自由選擇“泵浦”和“探測(cè)”脈沖，還可在透射和反射兩個(gè)模式間自由切換。inSpect的緊湊設(shè)計(jì)在保留出色穩(wěn)定性和易操作性的同時(shí)，節(jié)省了存放空間。泵浦源為Quantronix Palitra系列的光參數(shù)放大器，其特點(diǎn)為緊湊及寬無(wú)間隙可調(diào)性   探測(cè)是一束連續(xù)白光，通過(guò)可再生放大光束的一小部分聚焦在藍(lán)寶板上形成。檢測(cè)是通過(guò)切斷泵浦束，記錄連續(xù)探測(cè)源的脈沖對(duì)脈沖差吸光度，此為泵浦和脈沖間的延遲功能。在inSpect Commander 軟件的控制下， 這個(gè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化。軟件和寬帶寬的持續(xù)白光探測(cè)相結(jié)合，記錄不同延遲時(shí)的頻率分辨差異吸收信號(hào)，重建測(cè)量的2D時(shí)頻分辨圖像。