產品品牌：

Neaspec

產品型號：

s-SNOM

類型：

散射式掃描近場光學顯微鏡

儀器放大倍數：

10納米級別

分辨率：

10納米

適用范圍：

納米級別分析

裝箱數量：

1

幫您揭示納米世界的秘密   沒有復雜的樣品準備，NeaSNOM的無損檢測適用于：   *極性晶體 *半導體納米設備 *超材料和納米天線 *納米線和納米顆粒 *聚合物和蛋白質   從可見光到太赫茲的寬光譜范圍內，Nea SNOM可以對各類物質性質進行掃描，分辨率達到納米級別，例如：   * 化學組成 * 晶體結構 * 機械壓力/張力 * 輻射損傷 * 載流子濃度及遷移 * 電場分布 無論是描繪半導體納米棒中載流子的分布、定量單晶體管內的摻雜濃度、探索聚合物混合物的形態還是納米線 dark modes的可視化……                                    ……Nes SNOM都將是您的得力助手          特點：傳統光學顯微鏡的解析度受限于光學繞射因素而無法達到納米尺度。傳統孔洞式掃描近場光學顯微鏡雖然可克服此限制，但是其解析度限于五十納米以上，且其光信號隨孔洞縮小而急速下降，無法進行高解析度的納米檢測。我們的s-SNOM擁有10納米光學解析度的散射式掃描近場光學顯微鏡。         原理：利用原子力顯微鏡的探針針尖當散射源，來增強在針尖前端與樣品間的局限電場。藉由外差干涉、探針調制及光路設計等技術，可同時于多波長下記錄地貌、近場光場強度及相位影像。這項技術能夠用以探測納米材料的光學特性及因納米結構所產生的電磁場變化，s-SNOM對于您在納米科技的發展將能夠作出重大貢獻。