- 產品品牌：
- CEWEI
- 產品型號：
- 6JA
- 類型：
- 光學顯微鏡
一 6JA 干涉顯微鏡用途:
具有相同頻率、相同的振動方向和恒定相位差的光線，在空間疊加會發生干涉現象，這就是光波的干涉原理。利用光波的干涉原理和顯微鏡非接觸檢測特點對試樣表面上高度極微小差別進行測量。這類顯微鏡依據所測光潔度▽3-▽9/0.8-80um為光切法顯微鏡，▽10-▽14/1-0.03um為干涉顯微鏡。適用于測量零件表面刻線，鍍層深度等，配以特殊的附件還能測量顆粒加工紋路表面，低反射率的工件表面，對大型工件作表面測量時，可將儀器倒置在工件上。
二 6JA 干涉顯微鏡主要技術參數:
1、測微目鏡放大倍數：12.5X
2、儀器放大倍數：目視：500X, 低反射率：≈4%
3、測微鼓分劃值： 0.01mm
4、測量表面光潔度范圍：▽10-▽14(相當不平度0.1-0.03um) , 半寬度：Δλ≈10nm
5、工作物鏡的數值孔徑：0.65, 工作臺升程：5mm
6、工作距離：0.5mm, X、Y方向移動范圍：≈10mm
7、儀器的視場：目視：φ0.25mm
8、綠色干涉濾色片波長：λ≈530nm
9、旋轉運動范圍：360°,儀器標準鏡高反射率：≈60%
10、可調變壓器輸入電壓 220V，輸出電壓:4V-6V
