- 品牌/商標:美國奧林巴斯(原美國泛美)
- 企業類型:貿易商
探頭選擇
![]() | 接觸式探頭:接觸式探頭是一個通常可生成縱波且與被測樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式 探頭都裝有WC-5防磨面,不僅具有超級防磨效果,可以延長探頭壽命,還可以提供適合于大多數 金屬的的聲阻抗。請參閱第8頁了解有關縱波接觸式探頭的更詳細情況,還可參閱第17頁了解 有關垂直入射橫波探頭的信息。 |
![]() | 雙晶探頭:雙晶探頭包含兩個縱波晶片(一個用作發送器,另一個用作接收器),兩個晶片裝于 同一個外殼中,但中間有一層隔音屏障。每個晶片都稍微向另一個晶片傾斜,目的是使從工件底 面反彈的信號以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測嚴重腐蝕的工件時一般都能提供更穩定的讀數,而 且還可用于高溫環境。參閱第10頁了解有關用于探傷的雙晶探頭的更詳細情況,還可參閱第30頁 了解有關與Olympus NDT腐蝕測厚儀一起使用的雙晶探頭的更詳細情況。 |
![]() | 延遲塊探頭:延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭,其特殊的結構設計是在探頭晶片前插有塑料或環氧材料制成的一個薄片。延遲塊改進了工件近表面缺陷的分辨率,可以測量更薄的材料厚度,并能提供更的厚度測量結果。延遲塊可根據工件的表面幾何形狀緊貼在工件上,而且還可用于高溫應用中。要了解有關延遲塊探頭及延遲塊探頭選項的更詳細信息,請參閱第18頁。 |
![]() | 角度聲束探頭:角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭,可以所選的角度將縱波或橫波發射到工件中。角度聲束探頭可以對工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達的區域進行 檢測。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測,因為如果使用標準接觸式探頭,焊冠會擋住聲波,使聲波無法到達希望檢測的焊縫區域,而且一般的缺陷對準操作會使角度聲束產生更強的反射信號。 請參閱第12頁,了解角度聲束探頭和楔塊的其它信息。 |
![]() | 保護面探頭:保護面探頭為一種帶有螺紋外殼護套的單晶縱波探頭,可以安裝延遲塊、防磨帽或保護膜。這個特點極大地增強了探頭的靈活通用性,可使這種探頭用于范圍極為廣泛的應用中。 保護面探頭還可用作直接接觸式探頭,檢測橡膠或塑料等低阻抗材料,以改進聲阻抗的匹配效果。請參閱第20頁,了解保護面探頭及其可選項的更詳細信息。 |
![]() | 水浸探頭:水浸探頭為單晶縱波探頭,其防磨面具有與水匹配的阻抗。水浸探頭裝在密封外殼 中,在與防水線纜一起使用時,可以完全浸泡在水面以下。由于水浸探頭將水用作耦合劑和延遲 塊,因此針對必須對工件施行持續耦合的掃查應用來說,這種探頭是一種理想的探頭。水浸探頭 還有一個附加選項,即可以通過增加特定區域的聲強同時減少聲束焦點大小的方式將聲束聚焦。 要了解有關水浸探頭更多的信息,請參閱第22頁。 |
![]() | 高頻探頭:高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225 MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米(0.0004英寸)的材料進行厚度測量(取決 于材料、探頭、表面條件、溫度和設置)。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性 的薄材料進行高分辨率成像和缺陷探測應用的理想探頭。要了解有關高頻探頭的更詳細信息,請參閱第28頁。 |














