- 產(chǎn)品型號：
- HS-T50
產(chǎn)品簡介 HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)是一款廣泛應用于太陽能電池片制造過程中對表面厚度TTV電阻率無損測量的儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計都符合ASTM(美國材料實驗協(xié)會)和Semi標準，確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)一。 產(chǎn)品特點 ■ 無接觸無損傷測量 ■ 適用的晶圓材料包括Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料 ■ 抗干擾強，穩(wěn)定性好 ■ 強大的工控機控制和大屏幕顯示 ■ 一體化設(shè)計操作更方便，系統(tǒng)穩(wěn)定 ■ 為晶圓硅片關(guān)鍵生產(chǎn)工藝提供的無接觸測量 技術(shù)指標 ■ 測試尺寸：50mm- 300mm. ■ 厚度測試范圍：1000 um，可擴展到1700 um. ■ 測試：+/-0.25um ■ 電阻率測試范圍：0.1-50 ohm.cm ■ 測量：2% ■ 晶圓硅片類型：單晶或多晶硅 詳情歡迎來電咨詢： 北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司 北京市通州區(qū)工業(yè)開發(fā)區(qū)光華路16號 電話： -104 傳真：-608 聯(lián)系人：肖經(jīng)理 QQ：454972757 E-mail： 公司網(wǎng)站：https://www.HenergySolar.com
