- 產(chǎn)品品牌：
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- 產(chǎn)品型號(hào)：
- iTEST 芯片測(cè)試儀
iTEST 芯片測(cè)試儀
iTEST集成以下系統(tǒng)：
數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)
共享資源測(cè)試系統(tǒng)，每個(gè)管腳有獨(dú)立測(cè)試資源的測(cè)試系統(tǒng)。用來(lái)特性化測(cè)試集成電路的邏輯功能。
線性器件測(cè)試系統(tǒng)
用來(lái)測(cè)試線性集成電路的測(cè)試系統(tǒng)。
模擬測(cè)試系統(tǒng)
用來(lái)測(cè)試線性集成電路的測(cè)試系統(tǒng)。
存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)
DRAM 測(cè)試系統(tǒng)，閃存測(cè)試系統(tǒng)。這些類(lèi)型的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備用于驗(yàn)證內(nèi)存芯片。
板級(jí)測(cè)試系統(tǒng)
板級(jí)測(cè)試是用來(lái)測(cè)試整塊印制電路板PCBA，而不是針對(duì)單個(gè)集成電路。
RF測(cè)試系統(tǒng)
用來(lái)測(cè)試射頻集成電路的測(cè)試。
SOC測(cè)試系統(tǒng)
通常就是一個(gè)昂貴的混合信號(hào)集成電路測(cè)試系統(tǒng)，用來(lái)測(cè)試超大規(guī)模集成電路(VLSI)芯片；并且這種超大規(guī)模集成電路(VLSI)芯片的集成度比傳統(tǒng)的混合信號(hào)芯片高得多。
綜合測(cè)試項(xiàng)目：
| 1、直流輸出電壓 2、直流輸出電流 3、峰對(duì)峰值雜訊 4、有效值雜訊 5、暫態(tài)電壓 6、電壓穩(wěn)定度 7、電流穩(wěn)定度 8、開(kāi)機(jī)時(shí)序 9、上升時(shí)間 10、下降時(shí)間 11、關(guān)機(jī)時(shí)間 12、額外量測(cè) 13、浪涌電流測(cè)試 14、過(guò)沖電壓 15、電源備妥信號(hào)（PG） 16、電源失效信號(hào)（PF） 17、開(kāi)啟電源供應(yīng)器信號(hào) 18、輸出上升波形 19、輸出下降波形 20、效率 21、輸入有效值電流 |
22、輸入峰值電流 23、輸入功率 24、輸入功率因數(shù) 25、輸入電壓緩升/降測(cè)試 26、輸入頻率緩升/降測(cè)試 27、輸出電壓順序 28、短路測(cè)試 29、短路電流測(cè)試 30、過(guò)電壓保護(hù) 31、過(guò)載保護(hù) 32、過(guò)功率保護(hù) 33、擴(kuò)充量測(cè) 34、測(cè)試中調(diào)整 35、輸入斷電測(cè)試 36、輸入電源失真模擬 37、GPIB，RS232讀/寫(xiě) 38、TTL信號(hào)控制 39、繼電器控制 40、條碼讀取 41、動(dòng)態(tài)測(cè)試 |
產(chǎn)品實(shí)圖：
測(cè)試界面
