能量分散型熒光X射線元素分析儀 JSX-3400RⅡ_元素分析儀器

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東莞市協(xié)美電子有限公司

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能量分散型熒光X射線元素分析儀 JSX-3400RⅡ
JSX-3400RⅡ是日本電子株式會社推出的08年新一代能量分散型熒光X射線元素分析儀。該設(shè)備具有出眾性能指針，不能很好對應(yīng)RoHS指令、ELV指令和其它環(huán)境指令相關(guān)元素分析，還對鹵素Cl高測試分析。能同時無鹵測試及ROHS測試。
型錄

主要特點(diǎn)

1.	實(shí)現(xiàn)高靈敏度微少成分的分析短時間測定！
	Ⅰ	采用新光學(xué)系統(tǒng)與高分辨率 Si(Li) 型檢測器。檢測器分辨率在149eV以下。(業(yè)界
		的分辯率).
	Ⅱ	新開發(fā)的針對RoHS用X射線濾波器。減除了X射線管發(fā)出的干擾波峰以外，實(shí)現(xiàn)了波
		峰背景的低減與避免共存元素影響。
2.	內(nèi)置標(biāo)配塑料和金屬的檢量線。用戶不需要再做！
	Ⅰ	通過設(shè)備的校正功能，配置各種檢量線長期使用。一般的保守也簡單。
	Ⅱ	可針對Cl的檢量線，檢測限可達(dá)9個PPM，無鹵測試要求。
3.	簡單方便的操作系統(tǒng)
2	Ⅰ	按一鍵就完成測定!自動保存結(jié)果。一鍵生成
4.	材料元素 Monitoring 系統(tǒng)。
	Ⅰ	實(shí)現(xiàn)樣品形狀/厚度/面積和材料性質(zhì)補(bǔ)正都自動進(jìn)行。在業(yè)界多補(bǔ)正功能。滿足樣
		品基材多樣性需求。
5.	采用300mmφ 大型樣品室，自動樣品樣品倉門。
3	Ⅰ	大樣品可以直接放入様品室。自動樣品倉門更好密封樣品室。

其他功能

分析結(jié)果報(bào)告軟體：測試自動保存結(jié)果，並可一鍵生成報(bào)告。（標(biāo)配）

→

鍍錫分析軟體（可選）

Ⅰ

無鉛焊錫和Sn焊料中的Pb分析困難，使用該軟體可以簡單進(jìn)行非破壞分析，並

進(jìn)行鍍層厚度修正分析準(zhǔn)確。

鍍鎳分析軟體（可選）

Ⅰ

非破壞測量無電解Ni鍍層中的Pb,Cd進(jìn)行鍍層厚度修正分析準(zhǔn)確。成功地去除了背底

的影響。

Ⅰ

技術(shù)參數(shù)

元素範(fàn)圍	Na11 - U92
解析度	保證149ev 以下(JSX-3400R是目前市面上解析度之桌上型XRF)
X射線管	5-50kV, 1mA, 50W
靶材	Rh靶
濾波機(jī)構(gòu)	4種自動交換(包括Open)
準(zhǔn)直器	1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ
探測器	液氮製冷型Si(Li)半導(dǎo)體探測器
液氮	3升（消耗量1升/日以下）僅使用
樣品室尺寸	300 mmΦ x 150mmH
樣品室環(huán)境	大氣，真空（可選）
作業(yè)系統(tǒng)	Windows XP，19寸彩色顯示器
主要附件	能量校正樣品/強(qiáng)度校正樣品/檢查樣品
設(shè)備電源	單相AC100V±10%，單相AC220V±10%