產品品牌：

德國fischer

產品型號：

XDL-220

測量范圍：

0.15

X-RAY熒光光譜儀（膜厚儀）是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手,可同時分析多24個元素或五層以上鍍層.元素分析檢出限可達2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％,鍍層厚度薄可達0.005um，一般在20um內,小孔準直器（小直徑0.1mm），測試光斑在0.2mm以內。

X-RAY熒光光譜儀（膜厚儀）產品特點：
★ X射線發生系統采用了聚光導管
由于采用了X射線聚光導管方式，可得到以往十倍以上的X射線強度，從而可以提高微小樣品的膜厚測量及有害物質測量的。

★ 無需液氮的半導體檢測器
在進行薄膜測量與有害物質的濃度測量時，高分辨率的檢測器是必不可少的。SFT9500的檢測器不但可以達到高分辨率，而且可以實現高計數率。同時，由于使用了電子冷卻方式，所以無需液氮。

★ 能譜匹配軟件
可瞬間識別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個樣品較為接近的軟件。對識別材料十分有效。

★ 塊體檢量線軟件（適用于電鍍液分析）
可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。

★ 繪圖軟件（選配件）
將元素面分析的結果進行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。

★ 電鍍液容器（選配件）

★ 各種標準物質（選配件）

X-RAY熒光光譜儀（膜厚儀）,是可用于鍍層分析,有限的控制生產品質.德國菲希爾銅層膜厚分析儀原廠出口,質量有所保證, 并且穩定性高,測量準確.
聯系人:吳小姐
 
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