真空型X熒光光譜儀

產品特點
1. 采用國際先進的美國原裝進口SDD（SILICON DRIFT DETECTOR）硅漂移探測器,分辨率更高, 大大提高了輕元素的檢出限，標準檢出限較SI-PIN探測器提高100倍；測量范圍更寬，基本涵蓋了各種常規材料元素分析要求；
2. 配置美國原裝進口數據集成處理系統,數據采集速度更快，測量更穩定，重復性和長期穩定性更好；
3. 配置新開發的專用測量軟件,集成多種圖形計算方法,測量數據更精準，更穩定；
4. 軟件全面監控儀器主要部件運行狀態,使用更安全；
5. 配置專門開發的真空系統,真空性能更好,測試效果更佳；
技術參數:
1. 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)
2.. 元素含量分析范圍為1ppm到99.99％
3. 檢出限：1ppm
4. 測量時間：60-200秒(可調)
5. 儀器工作電源：AC220±5V
6. 能量分辨率為129±5eV
7. X 射線光管輸出電流：1mA
8. 極限壓力：6.7×10-2 Pa
9.樣品腔尺寸：610*320*100(mm)（不抽真空）/Φ100*h75(mm) (真空樣品腔)
10.多次測量重復性(以標準樣品為準)：±0.05％（高含量）/±0.002％(微量)
11.長期工作穩定性(以標準樣品為準)±:0.06％ (高含量）/±0.0025％(微量)