鍍層膜厚分析儀，一件代發(fā)_其它測厚儀

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深圳市華唯計(jì)量技術(shù)開發(fā)有限公司

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經(jīng)營模式：工廠

主營產(chǎn)品：RoHS檢測光譜儀;鹵素檢測光譜儀;膜厚分析光譜儀;元素分析光譜儀;波長色散光譜儀;液相色譜儀;光譜儀

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產(chǎn)品介紹： Ux-720新一代國產(chǎn)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量和測量結(jié)果業(yè)界。采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。 Ux-720微移動(dòng)平臺(tái)和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計(jì)在殼體外部，觀察移動(dòng)位置簡單方便。 X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的有了檢驗(yàn)的保障。 Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯新技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點(diǎn)測試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷，有助于效率。設(shè)計(jì)更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動(dòng)，輻射高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。軟件操作具有操作人員分級(jí)管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和登陸，測試的記錄同時(shí)自動(dòng)添加測試人的登錄名稱。產(chǎn)品指標(biāo)：測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層測量下限：0.003um測量上限：30-50um（以材料元素判定）測量層數(shù)：10層測量用時(shí)：30-120秒探測器類型：Si-PIN電制冷探測器分辨率：145eV高壓范圍：0-50Kv，50WX光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；光管靶材：Mo靶；濾光片：3種自動(dòng)切換；CCD觀察：260萬像素微移動(dòng)范圍：XY15mm輸入電壓：AC220V，50/60Hz測試環(huán)境：非真空條件數(shù)據(jù)通訊：U2.0模式準(zhǔn)直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm軟件方法：FlexFP-Mult工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義樣品腔：330×360×100mm 標(biāo)準(zhǔn)配件樣品固定支架1支窗口支撐薄膜：100張保險(xiǎn)管：3支計(jì)算機(jī)主機(jī)：品牌+雙核顯示屏：19吋液晶打印機(jī)：噴墨打印機(jī) 可選配件可升級(jí)為SDD探測器可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)一鍵操作功能，準(zhǔn)直器自動(dòng)切換，濾光片自動(dòng)切換，開蓋隨意自動(dòng)停，樣品測試照片自動(dòng)拍照、自動(dòng)保存，測試自動(dòng)彈出，供應(yīng)商信息自動(dòng)篩選和保存