主要特性

? 可與雙晶和單晶探頭兼容。
? 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
? 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
? 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
? 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
? 對于探頭，標準分辨率為0.01毫米。
? 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
? 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
? 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 厚度、聲速和渡越時間測量。
? 差分模式和縮減率模式。
? 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
? 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術。
? 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
? 設計合EN15317標準。

這款測厚儀與其他測厚儀有何不同？

38DL PLUS測厚儀的設計宗旨是滿足苛刻的應用要求，而且可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現(xiàn)場多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進行檢測工作。如果您需要一款撞擊、墜落、堅固結(jié)實的測厚儀器，那么，合IP67評級標準、帶有橡膠保護套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。

抵御惡劣環(huán)境的能力

袖珍型，重0.814公斤。
? 堅固耐用，設計合IP67標準。
? 性氣氛：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試，可在火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組中定義的性氣氛環(huán)境中操作。
? 撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
? 振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
? 寬泛的工作溫度范圍。
? 帶有支架的橡膠保護套。
? 彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設置，具有的清晰度。

可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區(qū)。
? 可直接訪問功能的簡便易行的操作界面。
? 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
? U和RS-232通訊端口。
? 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
? 可連接計算機或顯示器的VGA輸出。
? 默認或自定義雙晶探頭設置。
? 默認或自定義單晶探頭設置。
? 保護功能可以鎖住儀器的功能

簡便操作的設計理念:

數(shù)據(jù)記錄器和PC機接口

38DL PLUS測厚儀帶有一個功能的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
? 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。
? 32位字的文件名稱。
? 20位字的ID# (TML#)編碼。
? 9個文件格式：增量型、序列型、帶自定義點的序列型、2-D柵格型、帶自定義點的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動型。
? 每個ID# (TML)編碼可多存儲4個注釋。
? 注釋可存儲到一個ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上。
? 內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
? 可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡之間拷貝文件。
? 標準U和RS-232通信。
? 單晶和雙晶探頭設置的雙向傳輸。
? 機載統(tǒng)計。
? 機載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
? GageView接口程序通過U或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲卡上寫入信息。
? 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式直接導出到MicroSD存儲卡。

基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測厚儀的數(shù)據(jù)。
? 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)。
? 編輯所存數(shù)據(jù)。
? 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件，文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設置值及探頭設置值。
? 從測厚儀上厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀。
? 將測量總結(jié)導出到電子表格及其他程序。
? 收集捕獲的屏幕。
? 打印有關厚度、設置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的。
? 升級操作軟件。
? 和上傳單晶和雙晶探頭設置文件。標準配置:

38DL PLUS數(shù)字式聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標準雙晶探頭套裝盒
? 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
? 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
? GageView接口程序
? 試塊和耦合劑
? U線纜
? 橡膠保護套，帶有支架和頸掛帶
? 用戶手冊
? 兩年有限
測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、小值/值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調(diào)用應用、溫度補償、平均值/小值模式.

38DL PLUS

38DL PLUS是一款聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進行檢測。其性能包含THRU-T?（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、厚材料以及多層材料進行的厚度測量。

對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進行厚度測量:

38DL PLUS測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應用中常使用的是雙晶探頭。

? 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。
? 10個自定義雙晶探頭設置。
? 校準過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認增益。
? 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
? 校準過程中出現(xiàn)回波時使用的校準功能。
? 用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
? 高溫測量：溫度可500°C。
? 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項），使用M2017或M2091單晶探頭。
? EMAT探頭（E110-），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進行不使用耦合劑的厚度測量。

穿透涂層技術