平面平晶 平面平晶：是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶：用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學件、平臺、平板、導軌、密封件等。亦可用于檢定高的平面件。平面平晶：適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。 平面平晶的技術參數(shù)
| 產(chǎn)品名稱 | 平面直徑d（mm） | 工作面平面性（mm） |
| 平面平晶 | 30 | 0.03 |
| 平面平晶 | 45 | |
| 平面平晶 | 60 | |
| 平面平晶 | 80 | |
| 平面平晶 | 100 | 0.05 |
| 平面平晶 | 150 | |
| 平面平晶 | 200 | |
| 平面平晶 | 250 | |
| 平面平晶 | 300 | 0.08 |
