HeLeeX E8是一款適合于RoHS/無鹵/鍍層測厚的X射線熒光分析裝置儀器。標準配置ROHS/無鹵/鍍層測厚所需的要功能,用戶無需購買任何物件就能獲得ROHS/無鹵/鍍層測厚的分析系統。
a操作簡便:模塊化準直器,可快速拆卸,根據分析元素,配備不同材質準直器,從而降低準直器對分析元素的影響,元素分辨率
b易懂易用:軟件界面簡潔,模塊化設計,功能清晰,易操作。
eHeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數據一鍵備份,一鍵還原功能,保護用戶數據。
eHeLeeX ED Workstation V3.0根據不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測試精準度,穩定性和降低產品的檢出限。
eHeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。
c功能:HeLeeX E8標準配備了RoHS/無鹵/鍍層測厚分析所需的要功能,用戶無需購買選購件,就可以獲得RoHS/ELV/無鹵素分析系統。
二:RoHS儀器硬件配置
3.1、探測器
?類型:Si-PIN探測器(采用原裝風電致冷半導體探測器)
?Be窗厚度:1mil
?晶體面積:25mm2
?分辨率:149eV
?信號處理系統DP5
3.2、X射線管
?電壓 :0~50kV
?電流 :2.0mA
?功率 :50W
?靶材 :Mo
?Be窗厚度:0.5mm
?使用壽命 :大于2萬小時
3.3、高壓電源
?輸出電壓:0~50kV
?燈絲電流:0~2mA
?功率:50W
?紋波系數:0.1%(p-p值)
?8小時穩定性:0.05%
3.4、攝像頭
?微焦距
?免驅動
?500萬像素
3.5、準直器、濾光片
?快拆卸準直器、濾光片系統
?多種材質準直器
?光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm
?多種濾光片、準直器組合,軟件自動切換
3.6、其他配件
開關電源






