納優NaU-E650
采用納優技術的光路設計,顯著抻高分析和數據性,減小灰色地帶區間,節省外送檢測成本;
行業內全配置的12組濾光片(行業內一般配置≤8組),實現自動選擇空間。
提供開放式工作曲線標定技術平臺,可為用戶量身定做的有害物質檢測和控制方案;
全自動一鍵式操作-載物平臺、樣品室、準直器、濾光片、照射光斑定位等自動操作;
測試時間在100-400秒間自行設定(系統自動默認設定200秒);
經典的迷宮式輻射護結構,結合軟硬件多重保護,輻射性能;
測量元素范圍:Na-U.
NaU-E650主要應用技術指標:
(針對RoHS指令要求,按照電子信息產品污染控制技術中心《RoHS檢測用X熒光能譜儀性能評價規范RoHSQ09-005》的定義和測試方法,篩選測試各種中的Pb、Cd、Hg、CrBrCl)
NaU-E650進行XRF篩選允收標準示例(推薦值,按照IEC62321Edition 1.0 2008-12標準帛定)
納優E650型RoHS檢測儀參數:
產品名稱(product name):Nayur X熒光無鹵分析儀(Nayur halogen-free XRF)
型號(te):NaU-E650
測試對象(test object):粉未、固體、液體(powder,solid,liquid)
測量時間(test time):100-200s
環境溫度(environment temperature):15℃-30℃
環境濕度(environment humidity):30%-80%
管壓(tube voltage):10KV-50KV
管流(tube flow):50uA-1000uA
外形尺寸(instrument dimension):730mm×440mm×330mm
樣品腔面積(sample cavity dimension):400mm×400mm×100mm
重量(weight):30Kg
----------納優E650型RoHS檢測儀配置:
高分辨率電制冷半導體探測器(high-resolution electric refrigeration semiconductor detector)
鹵素測試配件(halogen test accessory)
光路優化系統(optical optimization system)
內置高清晰CCD攝像頭(high-resolution CCD camera)
自動切換準直器和濾光片collimators and filters automatic switching system
全自動定位測試系統(automatic positioning test system)
樣品倉自動開關裝置(fully automatic sample cavity)
三重保護模式(triple security protected mode)







