產品功能：
用以測試太陽能級硅材料和硅片的少數載流子壽命
產品特點：
采用微波光電導衰退法；擁有發明；
采用紅外大功率單色激光器；
測試數據一致性好。
主要參數：
測試范圍：單片或塊狀硅材料；擴散形成P-N后的太陽電池
測試方式：無接觸，單點測試
少子壽命：0.1um-1ms
測試速度：2秒／點
測試不重復度：≤2％
用以測試太陽能級硅材料和硅片的少數載流子壽命
產品特點：
采用微波光電導衰退法；擁有發明；
采用紅外大功率單色激光器；
測試數據一致性好。
主要參數：
測試范圍：單片或塊狀硅材料；擴散形成P-N后的太陽電池
測試方式：無接觸，單點測試
少子壽命：0.1um-1ms
測試速度：2秒／點
測試不重復度：≤2％
