臺(tái)式膜厚測(cè)試儀* 技術(shù)指標(biāo)型號(hào)：元素分析范圍從鋁（AL)到鈾（U）。
* 可同時(shí)分析多24個(gè)元素或五層以上鍍層。
* 元素分析檢出限可達(dá)2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度薄可達(dá)0.005um，一般在20um內(nèi)（不同材料有所不同）。
* 小孔準(zhǔn)直器（小直徑0.1mm），測(cè)試光斑在0.2mm以內(nèi)。
* 高移動(dòng)平臺(tái)（定位小于0.005mm）。
* 任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
* 尺寸：450mm*450mm
* 重量：32 kg
* 標(biāo)準(zhǔn)配置開(kāi)放式樣品腔。
* 精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
* 雙激光定位裝置。
* 鉛玻璃屏蔽罩。
* 新半導(dǎo)體探測(cè)器。
* 信號(hào)檢測(cè)電子電路。
* 高低壓電源。
* X光管。
* 可同時(shí)分析多24個(gè)元素或五層以上鍍層。
* 元素分析檢出限可達(dá)2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度薄可達(dá)0.005um，一般在20um內(nèi)（不同材料有所不同）。
* 小孔準(zhǔn)直器（小直徑0.1mm），測(cè)試光斑在0.2mm以內(nèi)。
* 高移動(dòng)平臺(tái)（定位小于0.005mm）。
* 任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
* 尺寸：450mm*450mm
* 重量：32 kg
* 標(biāo)準(zhǔn)配置開(kāi)放式樣品腔。
* 精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
* 雙激光定位裝置。
* 鉛玻璃屏蔽罩。
* 新半導(dǎo)體探測(cè)器。
* 信號(hào)檢測(cè)電子電路。
* 高低壓電源。
* X光管。
* 高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)。
臺(tái)式膜厚測(cè)試儀作為一種在線測(cè)量厚度的精密儀器，在電鍍工藝生產(chǎn)中占有重要的，直接影響到電鍍產(chǎn)品的質(zhì)量。鍍層控制系統(tǒng)接收到膜厚儀提供的實(shí)事厚度偏差信號(hào)對(duì)物料擠出機(jī)、物料加熱器進(jìn)行控制。信號(hào)的準(zhǔn)確和靈敏程度直接影響了鍍層產(chǎn)品厚度的。
x射線膜厚儀通過(guò)吧高壓直流電壓加在x射線的兩，產(chǎn)生不同能級(jí)的x射線穿過(guò)被測(cè)物，比較被測(cè)物兩端x射線的強(qiáng)度來(lái)進(jìn)行在線厚度測(cè)量。
