CMI900／950系列X射線熒光測厚儀是一種大的材料涂／鍍層測量儀器，可應用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900／950主機的自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定多5層、15種元素。數據統計功能允許用戶自定義多媒體分析格式，以滿足您特定的分析格式要求；如在分析中數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、值、小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數據分析模式。
CMI900／950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點小可達0.025×0.051毫米。
CMI900／950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點小可達0.025×0.051毫米。
