▲測(cè)試頻率20Hz-200KHz,度0.02%
▲基本量測(cè)準(zhǔn)確度:0.1%
▲3種阻輸出模式選擇,測(cè)量結(jié)果可與各之LCR表對(duì)比
▲增強(qiáng)式圈數(shù)比準(zhǔn)確測(cè)量,適用于低磁導(dǎo)率的磁芯
▲LCR量測(cè),快80次/秒
▲DCR量測(cè),快50次/秒
▲大型LCD顯示(320*240點(diǎn)矩陣)
▲提供各式標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試冶具及治具訂制
▲四端測(cè)試冶具,可得到DCR,電感量和圈數(shù)比穩(wěn)定的測(cè)量
▲4M SRAM記憶卡供機(jī)臺(tái)資料設(shè)定及備份
▲標(biāo)準(zhǔn)RS-232,HANDLER及PRINER界面
▲50組內(nèi)部儀器設(shè)定可供儲(chǔ)存及呼叫







