一、冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途用于電子電器組件、自動(dòng)化部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)工業(yè)航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，需要它的理想測(cè)試工具。
二、冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)國(guó)軍標(biāo)G150.3-86；國(guó)軍標(biāo)G150.國(guó)軍標(biāo)G150.5-86；GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法 GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)
B：高溫試驗(yàn)方法
二、冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)國(guó)軍標(biāo)G150.3-86；國(guó)軍標(biāo)G150.國(guó)軍標(biāo)G150.5-86；GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法 GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)
B：高溫試驗(yàn)方法