應用
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。
行業
用于電子元器件，半導體，PCB，汽車部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器多個行業表面鍍層厚度的測量。
主要規格規格描述
X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）
◆標準
裝備有射線光閘
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器。
樣品室
◆樣品室結構開槽式樣品室
◆樣品臺尺寸610mmx610mm
◆XY軸程控移動范圍標準：152.4x177.8mm還有5種規格任選
◆Z軸程控移動高度43.18mm
◆XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
◆樣品觀察系統高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。（50倍和100倍觀察系統任選。）
激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）
可檢測元素范圍：Ti22–U92。可同時測定5層／15種元素／共存元素校正。
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量，從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。
行業
用于電子元器件，半導體，PCB，汽車部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器多個行業表面鍍層厚度的測量。
主要規格規格描述
X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）
◆標準
裝備有射線光閘
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器。
樣品室
◆樣品室結構開槽式樣品室
◆樣品臺尺寸610mmx610mm
◆XY軸程控移動范圍標準：152.4x177.8mm還有5種規格任選
◆Z軸程控移動高度43.18mm
◆XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
◆樣品觀察系統高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。（50倍和100倍觀察系統任選。）
激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）
可檢測元素范圍：Ti22–U92。可同時測定5層／15種元素／共存元素校正。
