杭州維勘科技公司聯合中國光學研究機構浙江大學光電系，歷經4年，研發成功了光纖跳線端面干涉儀。它依據國際電工委員會（IEC）標準，能夠準確地檢測光纖端面的曲率半徑、光纖高度和頂點偏移等參數，為您在生產跳線的過程中提供研磨參數的調整，更能為您完成產品終檢，使之合國際廠商的采購需求，為您帶來豐厚利潤。
產品特點有：
1.產品測量由中國計量標準（中國計量科學研究院）檢測，測試結果。
2.產品復現性和重復性，測試結果的真實。
3.產品干擾性能良好，無需隔振措施。
4.快速便捷的售后服務，24小時答復，五個工作日內解決問題，維修期間更有備用機服務，讓您生產不間斷。
以下為本公司產品與國內外兩家公司產品的同環境下測量同一插芯的結果比對。可見本公司產品與國外某公司產品的測量值上吻合度高，國內某公司產品由于算法和結構上的問題，測量值與真值偏差較大，容易造成錯報和漏報。而重復性和穩定性方面，本公司產品在三種產品中的各項指標均是的。
曲率半徑（μm） 頂點偏移（μm） 光纖高度（nm）
國外 維勘 國內 國外 維勘 國內 國外 維勘 國內
平均值 14.7 14.1 12.49 37.4 37.15 32 -38.3 -37.9 -54
重復性 0.06 0.05 0.32 0.22 0.1 1.18 1.4 0.5 5
復現性 0.11 0.1 0.67 7.06 1.4 4.85 2.1 1 10
產品特點有：
1.產品測量由中國計量標準（中國計量科學研究院）檢測，測試結果。
2.產品復現性和重復性，測試結果的真實。
3.產品干擾性能良好，無需隔振措施。
4.快速便捷的售后服務，24小時答復，五個工作日內解決問題，維修期間更有備用機服務，讓您生產不間斷。
以下為本公司產品與國內外兩家公司產品的同環境下測量同一插芯的結果比對。可見本公司產品與國外某公司產品的測量值上吻合度高，國內某公司產品由于算法和結構上的問題，測量值與真值偏差較大，容易造成錯報和漏報。而重復性和穩定性方面，本公司產品在三種產品中的各項指標均是的。
曲率半徑（μm） 頂點偏移（μm） 光纖高度（nm）
國外 維勘 國內 國外 維勘 國內 國外 維勘 國內
平均值 14.7 14.1 12.49 37.4 37.15 32 -38.3 -37.9 -54
重復性 0.06 0.05 0.32 0.22 0.1 1.18 1.4 0.5 5
復現性 0.11 0.1 0.67 7.06 1.4 4.85 2.1 1 10
