智慧型記憶體測試卡
主要規格：
◇ 依據PC Timing方式來進行藉此能夠以客觀而明確的測試，且直接地呈現測試結果，而直接兼容于PC系統上。
◇ 支援Single／Dual Channel（64 Bits ／128 Bits）支持范圍【DDR PC200／PC266／PC333／P00／…】容量【4G Byte】 位寬度：【128 Bit】
◇ 提供Auto Dete的設計
【CPU】─TYPE、ID、SPEED
【CHIP】─TYPE
【DRAM】─容量、頻率、CL、Trcd、Trp
【CHANNEL】─SINGLE、DUAL
讓使用者可以藉由此功能，可以地自動判讀所測試之規格條件。
◇ 提供Test Pattern Seleable的設計讓使用者可以自行依照Dram的特性、規格需求，來選擇特定之Test Pattern，使本測試卡可以更地分析IC顆粒的好壞。
◇ 提供Loop Test的設計
由于Dram顆粒的溫度特性及生產方式之不同，為Dram Module穩定工作于PC System，
而設計Loop Test。藉由重復的測試，使待測記憶模塊之溫升能其運作正常動作。
主要規格：
◇ 依據PC Timing方式來進行藉此能夠以客觀而明確的測試，且直接地呈現測試結果，而直接兼容于PC系統上。
◇ 支援Single／Dual Channel（64 Bits ／128 Bits）支持范圍【DDR PC200／PC266／PC333／P00／…】容量【4G Byte】 位寬度：【128 Bit】
◇ 提供Auto Dete的設計
【CPU】─TYPE、ID、SPEED
【CHIP】─TYPE
【DRAM】─容量、頻率、CL、Trcd、Trp
【CHANNEL】─SINGLE、DUAL
讓使用者可以藉由此功能，可以地自動判讀所測試之規格條件。
◇ 提供Test Pattern Seleable的設計讓使用者可以自行依照Dram的特性、規格需求，來選擇特定之Test Pattern，使本測試卡可以更地分析IC顆粒的好壞。
◇ 提供Loop Test的設計
由于Dram顆粒的溫度特性及生產方式之不同，為Dram Module穩定工作于PC System，
而設計Loop Test。藉由重復的測試，使待測記憶模塊之溫升能其運作正常動作。
