產品簡介:
利用近紅外光,對珍珠珠層厚度進行傷實時斷層成像,并分析、測量、評價珍珠的品質。
珍珠珠層厚度檢測儀
1、臺近紅外光珍珠珠層成像儀(發明號:.6)。
2、利用低功率近紅外光對珍珠成像,照射到樣品的光功率1-2mW,波長為1.3微米,無放射性,對檢測工作者和珍珠樣品傷,檢測實驗室無需放射性屏蔽,不會對工作人員產生潛在的X線放射性危害;
3、與傳統的X線前向成像相比,本產品采用了的非接觸式背向散射成像技術實現了單珠檢測,使用于半成品、成品珍珠飾的測量成為可能;
4、直觀的珍珠珠層圖像,準確測量珍珠珠層厚度,分辨率可達0.03毫米;
5、儀器小型化,安裝、使用方便,可在生產工廠、檢測機構、分銷單位、售單位等場所直接使用,且適用于車載流動檢測;
6、成像檢測速度快,每個樣品用1-2秒,可選配分選器,適用于珍珠養殖、生產過程中的分級、篩選。



