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高分辨率波前分析儀(1.0um)
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高分辨率波前分析儀(1.0um)

產品價格:
電議
產品型號:
1.0um
供應商等級:
企業未認證
經營模式:
工廠
企業名稱:
上海昊量光電設備有限公司
所屬地區:
上海市
發布時間:
2014/3/3 12:55:11

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吳晉龍先生(聯系我時,請說明是在維庫儀器儀表網看到的,謝謝)

企業檔案

上海昊量光電設備有限公司

企業未認證營業執照未上傳

經營模式:工廠

所在地: 上海市

主營產品:電工電氣,電子元器件,工業設備及組件,儀器儀表,照明,制造加工機械,安全和防護

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  所屬類別:高分辨率波前分析儀
  
  廠家名稱:法國PV公司
  
  產品簡介:
  
  昊量光電提供的高分辨率波前分析儀是一款靈巧的、具有比的光學設備,能夠提供目前波前分析領域的分辨率與良好的動態范圍。不同于傳統的模擬波前傳感器,高分辨率波前測量儀整合了新的高分辨率波前傳感器。我們提供的配套波前分析軟件能夠很快從任何高分辨率波前相機采集數據,進行波前獲得、測量和分析等工作,是從自動獲取到波前展示、分析和的工具,并提供2D和3D等多種界面。
  
  一臺高分辨率波前分析儀=功率計+光束質量分析儀+波前測量儀+干涉測量儀!
  
  產品特點
  
  •高空間分辨率,可測量的像素點數量受限于CCD分辨率
  
  •次與次畸變的波前圖像
  
  •實時測量+位相和強度同時測量
  
  •光束質量因子M2性測量,無需額外附件,無需移動部件
  
  •動態范圍寬,可達1500λ
  
  •適用波長范圍寬,涵蓋紫外、可見光、近紅外、中遠紅外等波段
  
  •結構緊湊、使用輕便、
  
  典型應用
  
  •光束質量分析
  
  •光學器件檢測
  
  •眼科學
  
  •生物成像
  
  •物體表面檢測
  
  硬件指標
  
  波長范圍
  
  350-1100nm
  
  分辨率
  
  500x500
  
  孔徑
  
  5.4mm x 4mm
  
  靈敏度
  
  0.01λ
  
  動態范圍
  
  1500λ
  
  可根據客戶需要,定制更高分辨率的器件以及適用于紫外波段、近紅外與遠紅外的器件
  
  軟件功能
  
  GetLase M2
  
  可測量的光束強度參數:
  
  l 所采集圖像的強度值
  
  l 采集平面上的光斑長軸尺寸
  
  l 采集平面上的光斑短軸尺寸
  
  l 光斑圓度
  
  l 橢圓長軸相對于三角基準的定位
  
  可測量的光束傳輸參數:
  
  l X、Y方向光束質量因子M2
  
  l X、Y方向4 sigma 束腰大小
  
  l 測量平面與束腰平面的距離
  
  l 瑞利長度
  
  l 光束發散角
  
  GetLase WM
  
  二維與三維圖像展示波前分布
  
  澤爾尼克(Zernike)系數顯示
  
  l 澤爾尼克系數值
  
  l 澤爾尼克系數直方圖
  
  GetWave
  
  n 二維與三維波前圖像顯示
  
  n 二維與三維強度圖像顯示
  
  n 沿任意切面的波前與強度分布
  
  澤爾尼克(Zernike)系數實時顯示:
  
  l 澤爾尼克系數值
  
  l 澤爾尼克系數直方圖
  
  l 澤爾尼克系數重構
  
  n MTF,PSF,斯太爾率
  
  n 斜率、焦點、象差、彗差、球差分析
  
  n LOAs&HOAs測量
  
  n 來自參考測量的殘差波前
  
  n 來自擬合的殘差波前
  
  幾種不同的波前分析儀之比較
  
  傳感器技術
  
  傳感器類型
  
  l 分辨率
  
  l 無硬件
  
  l 波長范圍不授限制
  
  l 性價比
  
  l 軟件計算比較復雜
  
  普通波前分析儀波前測試圖像高分辨率波前分析儀波前測試圖像

其他說明

波長范圍 350-1100nm
分辨率 500x500
孔徑 5.4mm x 4mm
靈敏度 0.01λ
動態范圍 1500λ

 
GetLase M2
可測量的光束強度參數:
l  所采集圖像的強度值
l  采集平面上的光斑長軸尺寸
l  采集平面上的光斑短軸尺寸
l  光斑圓度
l  橢圓長軸相對于三角基準的定位
可測量的光束傳輸參數:
l  X,Y方向光束質量因子M2
l  X,Y方向4 sigma 束腰大小
l  測量平面與束腰平面的距離
l  瑞利長度
l  光束發散角
GetLase WM
二維與三維圖像展示波前分布 澤爾尼克 ( Zernike ) 系數顯示
l  澤爾尼克系數值
l  澤爾尼克系數直方圖
GetWave
n  二維與三維波前圖像顯示
n  二維與三維強度圖像顯示
n  沿任意切面的波前與強度分布
澤爾尼克 ( Zernike ) 系數實時顯示:
l  澤爾尼克系數值
l  澤爾尼克系數直方圖
l  澤爾尼克系數重構
n  MTF, PSF, 斯太爾率
n  斜率,焦點,象差,彗差,球差分析
n  LOAs&HOAs測量
n  來自參考測量的殘差波前
n  來自擬合的殘差波前
 

 

 

 
   
傳感器技術 傳感器類型 優點 缺點
Anologue Sharck-Hartmann Sensor (SHS) l   較寬的波長范圍
l  高靈敏度
l  對振動不敏感
l  分 辨率較低
l  動 態范圍有限
l  需 要校準
l  靈 敏度與動態范圍的對應關系缺乏靈
Lateral Shearing Interferometer (LSI) l  具有 SHS 更高的分辨率
l  靈 敏度與動態范圍的對應關系具有靈
l  波 前誤差控制
l  比 SHS 硬件構成更復雜
Curvature Wavefront Sensor (CWS) l  比 SHS 或 LSI 具有更高的分辨率 l  比 SHS 與 LSI 具有更復雜的硬件構成
l  適用波 長受限
l  帶寬 受限
Dial Dial Wavefront Camera (DWC) l  分辨率
l  無 硬件
l  波長范圍不授限制
l  性價比
l  軟件計 算比較復雜

聯系方式

上海昊量光電設備有限公司

聯系人:
吳晉龍先生
手機:
86-13761570395
傳真:
86-21-34241962
所在地:
上海市
類型:
工廠
地址:
上海市中山西路1878號凱托大廈1號樓2203室

服務熱線

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