產品副名稱：可滿足度層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層厚度測量儀
　　產品型號：SFT9400、SFT9450、SFT9455

　　產品特點：
　　★搭載有高功率X射線管及雙檢測器（半導測器＋比例計數管）
　　可對應組合復雜的應用程序，是可識別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。
　　能夠對Ni／Cu和Au／Ni／Cu在不使用二次濾波器的情況下進行測量
　　對于含Br的電路板，可以不受Br的干擾對Au的鍍層厚度進行高的測量
　　可測量0.01μm以下的的Au鍍層厚度
　　★搭載塊體FP發軟件和薄膜FP法軟件
　　對應含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領域
　　★適用微小面積的測量
　　標準配備的15μmΦ的準直器，可對微小面積進行測量。
　　★搭載了可3段切換的變焦距光學系統
　　★擁有沖撞功能
　　★搭載高樣品平臺，更可測量大型線路板（SFT9455）
　　★搭載激光對焦系統
　　★搭載測試自動生成軟件
　　
　　產品特征：　　
　　為了對應電子工業當中越來越復雜的鍍金工藝而設計，是在以往的SFT9300的基礎上升級的產品。他繼承了SFT9300的75W高功率X射線管，還配備雙檢測器（半導測器＋比例計數管）。是SFT9000系列里的機型，能滿足“薄膜鍍層”、“合金鍍層”、“微小面積測量”等鍍層厚度測量需求的鍍層厚度測量儀。此外，SFT9400系列還在測量鍍層厚度的基礎上，新增了可對不同被測物體積材料進行定性分析和成分分析的功能。

　　產品介紹：
　　SFT9400系列產品規格
　　型號：SFT9400／SFT9450／SFT9455
　　儀器的：微小面積對應及型
　　可測量元素：原子序號22（Ti）～83（Bi）
　　X射線源：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（Mo靶）
　　管電壓：50kV管電流：1.5mABe窗
　　濾波器：濾波器：Mo-自動切換
　　二次濾波器：無
　　照射方式:上方垂直照射方式
　　檢測器:半導測器＋比例計數管（不需液氮的檢測器）
　　儀器校正:自動校正＋手動校正
　　準直器（標準配置）:○型（4種）
　　性能:樣品室門鎖，樣品沖撞功能
　　樣品圖像對焦:有（激光對焦）
　　樣品觀察:CCD攝像頭＋倍率光學器＋鹵素燈照明
　　焦點切換功能:3段切換9400：10／40／70mm
　　9450：10／25／40mm
　　X-rayStation  臺式電腦
　　（OS；MS-WindowsXP®）
　　打印  噴墨打印機
　　應用  單層、雙層、多成分合金薄膜、成分比同時測量、化學鎳
　　軟件  塊體FP法軟件、薄膜FP法軟件
　　測量功能：自動測量、中心搜索、圖像識別處理
　　修正功能：基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
　　統計處理功能：MS-EXCEL®
　　制作功能：MS-WORD®