1.技術(shù)原理
　　RMS型三維光學(xué)密集點(diǎn)云測量系統(tǒng)是一種高的非接觸式三維掃描測量設(shè)備，采用國際的外差式多頻相移三維光學(xué)測量技術(shù)，單幅測量幅面大小（從150mm到3米）、測量、測量速度等性能都國際水平，與傳統(tǒng)的格雷碼加相移方法相比，測量更高，單次測量幅面更大、干擾能力強(qiáng)、受被測工件表面明暗影響小，而且能夠測量表面劇烈變化的工件。
　　
　　2.與傳統(tǒng)產(chǎn)品的比較
　　RMSII型便攜式三維掃描儀與激光掃描儀、三座標(biāo)測量機(jī)的比較：
　　比較項(xiàng)目 RMSII型便攜式
　　三維掃描儀激光掃描儀三坐標(biāo)測量
　　系統(tǒng)體積小大大
　　系統(tǒng)重量輕、方便靈活重、難移動重、不可移動
　　掃描方式面點(diǎn)、線點(diǎn)
　　拼接方法標(biāo)志點(diǎn)自動拼接手動手動拼
　　測量高較低高
　　測量范圍無限制受機(jī)械行程限制受機(jī)械行程限制
　　機(jī)械磨損不存在嚴(yán)重存在
　　測量時間單幅3~6秒 10分鐘、數(shù)小時數(shù)小時~數(shù)天
　　安裝設(shè)置簡單需要嚴(yán)格調(diào)試需要嚴(yán)格調(diào)試
　　維護(hù)難度容易難、嚴(yán)格難、嚴(yán)格
　　工作環(huán)境寬松環(huán)境光、溫度、濕度等影響受溫度、濕度影響
　　適用范圍物體廠家不同而不同硬表面物體的測量
　　
　　3.設(shè)備參數(shù)
　　技術(shù)性能：
　　技術(shù)指標(biāo)名稱技術(shù)指標(biāo)備注
　　掃描方式光柵投影
　　測量距離 500mm-1.3m 標(biāo)準(zhǔn)1m
　　分辨率≥1280×1024
　　單次掃描范圍 128×96mm～400×300mm
　　測量點(diǎn)距 0.1mm-0.3mm
　　測量深度大于300mm
　　單幅掃描 0.03mm
　　采集時間小于3~5秒
　　點(diǎn)云輸出格式*。asc，*。wrl，*。ply
　　拼接方式標(biāo)志點(diǎn)匹配拼接
　　標(biāo)志點(diǎn)識別實(shí)時跟蹤識別
　　系統(tǒng)控制一體化控制（開關(guān)機(jī)、掃描、測距）