然而在初,X-射線熒光光譜分析儀更多被用做輔助儀器,與耗時更多的商業實驗室分析一起使用,包括原子吸收,ICP和其它方法,但X-射線熒光光譜分析儀的性和可用性表示它適合使用在許多地方,尤其是礦區對速度要求和時間有限的情況下,關于X-射線熒光光譜分析儀的改進一直被持續報道,新的儀器可以分析鎂、硅和鋁等輕物質,以用于應用。
一個小型銀正X光射線管與固態檢測器結合能得出結果。
阿爾法系列產品使用了基礎參數算法,它可以自動的將會影響X-射線熒光光譜分析儀結果的多種元素間問題列入考慮范圍內,這樣人們可以依據一系列校準因素對基巖差異做出調查,多組校準參數可以保存至分析儀中,以便輕易調出。
INV—X公司阿爾法系列產品堅固耐用、使用經濟、攜帶輕便,并能快速、地檢測出勘探樣品、礦石、進料、精礦、和礦渣中的元素成分。INV—X便攜式分析儀可進行現場直接檢測分析,為您節省大量時間(無須往返于礦場和實驗室)。







