系統技術優勢
　　TDLAS技術：TDLAS技術是一種高分辨率吸收光譜技術。與傳統紅外
　　光譜技術不同，其采用的半導體激光光源的光譜寬度遠
　　小于特定氣體吸收譜線的寬度，避免了背景氣體間的交
　　叉干擾。
　　終生無需校準：LasIR分析控制器內置特定氣體參比池，通過對參比池的實
　　時監測，動態調節TDL的電流和溫度輸入，使得LasIR
　　系統總是“鎖住”特定氣體的吸收譜線，因此系統不存
　　在漂移問題，前期安裝調試完畢后，用戶無需對系統進
　　行定期的標氣校準，是真正的免維護系統。
　　LasIR氣體分析系統采用氣體直接吸收測量的方式。依據Beer-Lambert定律：
　　I（v）＝I0（v）exp［-S（v）φ（v）Pabs　C　L］
　　C（濃度）＝-ln　I（v）/I0（v）/-S（v）φ（v）PabsC　L
　　I（v）—光強
　　I0（v）——入射光強
　　因為激光傳輸光路中的粉塵或視窗污染造成的入射光與光的光強減弱是等比例的，因此通過我們的除法運算以及光譜掃描技術消除了粉塵和視窗污染的影響。
　　一機多點監測：
　　由于系統采用光纖分布技術，可實現一臺分析控制器多同
　　時監測16個現場需監測點。不同與其他采樣分析系統電磁
　　閥多路切換技術，LasIR系統是真正的同時現場多點監測。
　　檢測范圍寬：
　　LasIR氣體分析系統可以在ppb～%范圍內進測，其他氣測系統無法與其比擬。真正適合于工業流程氣體的監測。
　　遠距離光程開放式：
　　開放式光學系統光程可達1000米，實現環境空氣監測中低檢測下限要求。