目前產品有：
150mm：PM5（手動）、EP6 RF（手動）、EP6 DC（手動）、M150（手動）。（其中PM5、EP6為原SUSS產品，M150為原Cascade，但M150已停產）。
200mm：PM8（手動）、Summit（半自動）、AP200（半自動）、The BlueRay Probe System（全自動）、AP200 BlueRay Probe System（全自動）、PA200 Semiautomatic Probe System（半自動）。
300mm：Elite 300、PA300、PA300ProbeShield 3D、PM300.
其他探針臺：EDGE 1/f Noise（精密噪聲測試，一款配置了儀器的設備）、Power Device（高電壓測試設備）、Wafer-Level Reliability、Vacuum probe System（真空）、Cryogenic probe Sysgtem（低溫）、Pressure probe System（高壓）、Double Side probe System（雙面）等等
特征與優點
包括用于低噪聲和光敏測試的光屏蔽版本和電磁屏蔽版本
應用靈活，是理想的高頻應用測試工具
內部空間可容納探針系統上的溫控卡盤、激光切片及視頻設備
可與SUSS的振臺集成
SE1000/1200于探針系統，無振動影響
150mm：PM5（手動）、EP6 RF（手動）、EP6 DC（手動）、M150（手動）。（其中PM5、EP6為原SUSS產品，M150為原Cascade，但M150已停產）。
200mm：PM8（手動）、Summit（半自動）、AP200（半自動）、The BlueRay Probe System（全自動）、AP200 BlueRay Probe System（全自動）、PA200 Semiautomatic Probe System（半自動）。
300mm：Elite 300、PA300、PA300ProbeShield 3D、PM300.
其他探針臺：EDGE 1/f Noise（精密噪聲測試，一款配置了儀器的設備）、Power Device（高電壓測試設備）、Wafer-Level Reliability、Vacuum probe System（真空）、Cryogenic probe Sysgtem（低溫）、Pressure probe System（高壓）、Double Side probe System（雙面）等等
特征與優點
包括用于低噪聲和光敏測試的光屏蔽版本和電磁屏蔽版本
應用靈活，是理想的高頻應用測試工具
內部空間可容納探針系統上的溫控卡盤、激光切片及視頻設備
可與SUSS的振臺集成
SE1000/1200于探針系統，無振動影響
