少子壽命測試儀

　　產品：
　　HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行處理。少子壽命測試量程從0.1μs到30ms，電阻率要求范圍：0.1-1000Ω。cm，，是太陽能電池硅片企業、多晶鑄錠企業、拉晶企業得的測量儀器。
　　
　　產品特點
　　■無接觸和傷測量
　　■自動測量，具有傳送系統，可進行連續測量
　　■快速測量，測試掃描速度2000mm/min
　　■測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量
　　■主要應用于硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產工藝過程中屬沾污和缺陷的監控等。
　　■，地降低了企業的測試成本。
　　
　　推薦工作條件
　　■溫度：18-26℃
　　■濕度：10%~80%
　　■大氣壓：750&plun;30毫米汞柱
　　
　　技術指標
　　■少子壽命測試范圍：0.1μs-30ms
　　■測試掃描速度：2000mm/min
　　■測試尺寸：215mm*215mm*500mm
　　■電阻率范圍：0.1Ω。cm-1000Ω。cm
　　■激光波長：904，測試功率范圍：50-500mw
　　■硅棒硅塊掃描間距：≥1mm
　　■儀器測試：&plun;3.5％，信號處理偏差≤2％
　　■工作頻率：10GHz&plun;0.5
　　■微波測試單元功率：0.01W&plun;10%
　　■電源：～220V 50Hz 功耗＜200W
　　■主機尺寸：365mm*645mm*565mm
　　■主機重量：30KG