Dimension Icon 系列作為布魯克公司（Bruker AXS）原子力顯微鏡的旗艦產品，凝聚了多項行業的技術，是二十多年技術、客戶反饋和行業應用的結晶。
Dimension Icon 的出現為科學和工業界在納米尺度的研究帶來了性的之作。
Dimension Icon 可以實現主要的掃描探針成像技術，其測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm.溫度補償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現出的高分辨率。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統來說，這種噪音水平了的開環掃描高分辨率的原子力顯微鏡。的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下大大了掃描速度。探針和樣品臺的開放式設計使 Icon 可勝任各種標準和非標準的實驗。
Dimension Icon的硬件和軟件程度的利用了的布魯克AFM的模式和技術，如高次諧波共振模式等。并且，的不失真高溫成像技術采用對針尖和樣品同時加熱的方法，程度減少針尖和樣品之間的溫差，避免造成成像失真。
Dimension Icon 可廣泛應用于材料科學，物理，化學，微電子，生命科學等領域和學科。
Dimension Icon 的出現為科學和工業界在納米尺度的研究帶來了性的之作。
Dimension Icon 可以實現主要的掃描探針成像技術，其測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm.溫度補償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現出的高分辨率。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統來說，這種噪音水平了的開環掃描高分辨率的原子力顯微鏡。的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下大大了掃描速度。探針和樣品臺的開放式設計使 Icon 可勝任各種標準和非標準的實驗。
Dimension Icon的硬件和軟件程度的利用了的布魯克AFM的模式和技術，如高次諧波共振模式等。并且，的不失真高溫成像技術采用對針尖和樣品同時加熱的方法，程度減少針尖和樣品之間的溫差，避免造成成像失真。
Dimension Icon 可廣泛應用于材料科學，物理，化學，微電子，生命科學等領域和學科。
