原理介紹
光聲光譜學是光譜技術與量熱技術結合的產物，光聲效應是在1880年由A.G.貝爾發現的。它的機理是:當物質受到光照射時,物質因吸收光能而受激發，然后通過非輻射消除激發的過程使吸收的光能（或部分）轉變為熱。如果照射的光束經過周期性的強度調制，則在物質內產生周期性的溫度變化，使這部分物質及其鄰近媒質熱脹冷縮而產生應力（或壓力）的周期性變化，因而產生聲信號，此種信光聲信號。光聲信號的頻率與光調制頻率相同，其強度和相位則決定于物質的光學、熱學、彈性和幾何的特性。若入射單色光波長連續變化，則可測到隨波長而變的連續光聲信號圖譜，這就是光聲光譜。
由于光聲光譜測量的是樣品吸收光能的大小，因而反射光、散射光等對測量干擾很小，故光聲光譜適于測量高散射樣品、不透光樣品、吸收光強與入射光強比值很小的弱吸收樣品和低濃度樣品等，而且樣品無論是晶體、粉末、膠體等均可測量，這是普通光譜做不到的。光聲效應與調制頻率有關，改變調制頻率可獲得樣品表面不同深度的信息，所以它是提供表面不同深度結構信息的探測方法。
本儀器基本性能參數
1. 光譜范圍：300-1200 nm，可適當擴展。
2. 光譜分辨率：2 nm。
3. 測量偏差：&plun; 1.5％。
4. 波長讀數：＜l nm。
5．信號調制頻率：5－200 Hz連續可調
