儀器簡介：
NETZSCH公司LFA 447 Nanoflash®閃光導熱儀，在材料熱擴散與導熱性能測量方面又一有力的工具。遵照ASTM E1461標準，Nanoflash®使用氙燈作為加熱源加熱樣品表面，使用紅外探測器讀取樣品溫升，減少了潛在的表面熱阻，可以測量薄的樣品如基質上的涂層、薄膜材料或多層樣品。
Nanoflash®的操作實現高度自動化：由軟件控制測試溫度與閃光燈啟閉，并進行數據分析。自動進樣系統允許儀器在測試過程中測量多個樣品。在爐體到達設定溫度后，每一數據點的采集通常短于五分鐘。儀器可以為每一樣品單獨設置閃光能量等級、脈沖寬度與溫度。其所測量的熱擴散系數范圍十分寬廣，覆蓋從聚合物到金剛石各類材料領域。
測量原理：作為加熱源的氙燈發射一束脈沖，打在樣品的下表面，由紅外探測器測量樣品上表面的相應溫升，并由軟件計算出樣品的熱擴散系數。
儀器可以同步測量熱擴散系數（α）與比熱（Cp）。比熱的測量是通過比較樣品的實際溫升與已知比熱的參比樣的溫升求得。若已知樣品的密度（ρ），則按照下式可計算出樣品的導熱系數（λ）：
λ（T）＝α（T）＊Cp（T）＊ρ（T）
使用內置的2或4樣品位的自動進樣器，可以同時自動進行多個樣品的測量。樣品托盤操作容易，制樣快，測樣周期短。
提供的矩陣掃描（MTX）選件，用于50mm×50mm的平板狀樣品，在整個樣品表面測定熱擴散系數的差別，x方向與y方向上的分辨率為100μm。
NETZSCH公司LFA 447 Nanoflash®閃光導熱儀，在材料熱擴散與導熱性能測量方面又一有力的工具。遵照ASTM E1461標準，Nanoflash®使用氙燈作為加熱源加熱樣品表面，使用紅外探測器讀取樣品溫升，減少了潛在的表面熱阻，可以測量薄的樣品如基質上的涂層、薄膜材料或多層樣品。
Nanoflash®的操作實現高度自動化：由軟件控制測試溫度與閃光燈啟閉，并進行數據分析。自動進樣系統允許儀器在測試過程中測量多個樣品。在爐體到達設定溫度后，每一數據點的采集通常短于五分鐘。儀器可以為每一樣品單獨設置閃光能量等級、脈沖寬度與溫度。其所測量的熱擴散系數范圍十分寬廣，覆蓋從聚合物到金剛石各類材料領域。
測量原理：作為加熱源的氙燈發射一束脈沖，打在樣品的下表面，由紅外探測器測量樣品上表面的相應溫升，并由軟件計算出樣品的熱擴散系數。
儀器可以同步測量熱擴散系數（α）與比熱（Cp）。比熱的測量是通過比較樣品的實際溫升與已知比熱的參比樣的溫升求得。若已知樣品的密度（ρ），則按照下式可計算出樣品的導熱系數（λ）：
λ（T）＝α（T）＊Cp（T）＊ρ（T）
使用內置的2或4樣品位的自動進樣器，可以同時自動進行多個樣品的測量。樣品托盤操作容易，制樣快，測樣周期短。
提供的矩陣掃描（MTX）選件，用于50mm×50mm的平板狀樣品，在整個樣品表面測定熱擴散系數的差別，x方向與y方向上的分辨率為100μm。
