特性--I的功能：
◆短的數秒鐘內，全檢出組裝電路板（loaded PC board）上件-電阻、電容、電感、電晶體、二體、穩壓二體、光偶器、繼電器等件，是否在我們設計的規格內運作。
◆先期找出制程不良所在，如漏件（missing part）、折腳（bending）、短路（short）、錫橋（bridge）、反向（miss-oriented）、錯件（wrong part）、開路（open）、焊接不良等問題，回饋到制程的。
◆述故障或不良資訊以印表機印出測試結果，包括故障位置、件標準值、測試值，以供維修人員參考。可以降低人員對產品技術依賴度，不需對產品線路了解，照樣有維修能力。
配備 EC Jet 測試技術，電解電容性測試：
以來，電解電容性（Polarity）測試一直是品保人員心中的痛。電解電容的反插在PCB上形同潛藏的不，不知何時有爆裂的危險。傳統I對電解電容性測試可測率30~50%，不但測試時間長，且漏判率高，而采用人工目視檢查亦同樣耗時而不。
針對實裝電路板電解電容性和并聯電容漏件測試，提出整體解決方案，可測率趨近于100%，測試速度快而，真正解決您生產線電解電容測試的問題。針對電解電容，可測率趨近100%固態爆電解電容性趨近100%測試并聯電解電容漏件測試
人性化Windows介面，操作簡單、上手容易
強大的板示功能（Board View）
測試時可即時圖形顯示不良元件、腳位及針點位置，編輯時可隨點隨選或手動輸入件編號、腳位、短/開路不良群組、網點列表等，方便問題查找及維修。
五線式測試技術，可測四端元件
傳統二線、三線測試技術，均只能作較粗略之量測，易造成量測的角。本公司機種采用五線式（5 wir）測試技術（2 wir信號，2 wir測量表頭，1 wire Guarding），可快速、量測。
ATPD自動測試程式除錯
ATPD自動測試程式除錯（Automatic Tting Program Debug），大幅節省DUT測試程式制作時間。
完善統計分析報表，監控生產品質
針對被測板可作每日、每月或特定期間之測試資料統計分析。根據不良件、不良針點排行，能很快找到生產問題點所在，地如針床品質、DUT品質等生產問題之監控。
強全自動學習功能（ATPD）
可快速完成程式調試，節約程式調試時間；的連板展開及子板偵測功能，連板展開后無需調試，子板偵測可實現對連板中缺板或無著件板自動刪略測試
微電阻精密測試
使用四線測試技術可消除通道和針點接觸電阻，測試穩定，小可測試0.05歐姆電阻。
完善的自我檢測功能，開機即對設備的量測卡、開關卡和I/O卡自檢，測試前設備的良好性。
S（option）----測試特點及系統選擇
可搭配S（Shop-Floor Information System）現場管理軟體連線
單步10個隔離點，對待測體信號源分流提供了更強的隔離效果，了測試的穩定。
預留S系統、條碼掃描、方位監控、蓋章功能、保護等接口，客戶可根據需求進行選購。
◆短的數秒鐘內，全檢出組裝電路板（loaded PC board）上件-電阻、電容、電感、電晶體、二體、穩壓二體、光偶器、繼電器等件，是否在我們設計的規格內運作。
◆先期找出制程不良所在，如漏件（missing part）、折腳（bending）、短路（short）、錫橋（bridge）、反向（miss-oriented）、錯件（wrong part）、開路（open）、焊接不良等問題，回饋到制程的。
◆述故障或不良資訊以印表機印出測試結果，包括故障位置、件標準值、測試值，以供維修人員參考。可以降低人員對產品技術依賴度，不需對產品線路了解，照樣有維修能力。
配備 EC Jet 測試技術，電解電容性測試：
以來，電解電容性（Polarity）測試一直是品保人員心中的痛。電解電容的反插在PCB上形同潛藏的不，不知何時有爆裂的危險。傳統I對電解電容性測試可測率30~50%，不但測試時間長，且漏判率高，而采用人工目視檢查亦同樣耗時而不。
針對實裝電路板電解電容性和并聯電容漏件測試，提出整體解決方案，可測率趨近于100%，測試速度快而，真正解決您生產線電解電容測試的問題。針對電解電容，可測率趨近100%固態爆電解電容性趨近100%測試并聯電解電容漏件測試
人性化Windows介面，操作簡單、上手容易
強大的板示功能（Board View）
測試時可即時圖形顯示不良元件、腳位及針點位置，編輯時可隨點隨選或手動輸入件編號、腳位、短/開路不良群組、網點列表等，方便問題查找及維修。
五線式測試技術，可測四端元件
傳統二線、三線測試技術，均只能作較粗略之量測，易造成量測的角。本公司機種采用五線式（5 wir）測試技術（2 wir信號，2 wir測量表頭，1 wire Guarding），可快速、量測。
ATPD自動測試程式除錯
ATPD自動測試程式除錯（Automatic Tting Program Debug），大幅節省DUT測試程式制作時間。
完善統計分析報表，監控生產品質
針對被測板可作每日、每月或特定期間之測試資料統計分析。根據不良件、不良針點排行，能很快找到生產問題點所在，地如針床品質、DUT品質等生產問題之監控。
強全自動學習功能（ATPD）
可快速完成程式調試，節約程式調試時間；的連板展開及子板偵測功能，連板展開后無需調試，子板偵測可實現對連板中缺板或無著件板自動刪略測試
微電阻精密測試
使用四線測試技術可消除通道和針點接觸電阻，測試穩定，小可測試0.05歐姆電阻。
完善的自我檢測功能，開機即對設備的量測卡、開關卡和I/O卡自檢，測試前設備的良好性。
S（option）----測試特點及系統選擇
可搭配S（Shop-Floor Information System）現場管理軟體連線
單步10個隔離點，對待測體信號源分流提供了更強的隔離效果，了測試的穩定。
預留S系統、條碼掃描、方位監控、蓋章功能、保護等接口，客戶可根據需求進行選購。
其他說明
| 項目 | 功能 | 規格 | Q998 |
| 測試點數 | 標準配置 | 256 | |
| 點數 | 1024 | ||
| 可擴充65,536點 | √ | ||
| 開關卡 | CMOS+Relay | 每一信道卡128個信道 | 選購 |
| CMOS+放電Relay | 每一信道卡64個信道 | √ | |
| 全Relay | 每一信道卡64個信道 | √ | |
| 隔離點 | 每一測試有10個 | √ | |
| 測試信號源(可程序) | DC電壓 | &plun;10mV~&plun;7.5V或15V | √ |
| AC電壓 | 10mVPP~10VPP | √ | |
| AC/DA電壓 | 10uA~20mA | √ | |
| 測試頻率 |
120, 1020, 10K, 100KHz, 2MHz(60MHz) 100,1000,10K, 100KHz, 2MHz(50MHz) |
√ | |
| 測試步驟 | 無限制 | √ | |
| 測試速度 | 每一組件:2mS~4mS | √ | |
| 開/短路0.5秒/1,024點 | √ | ||
| 測試范圍 | 電阻 | 0.5Ω~100MΩ(二線式)&plun;1%~5% | √ |
| 電容 | 1pF~40mF&plun;2%~5% | √ | |
| 電感 | 1uH~50H&plun;2%~5% | √ | |
| 二管 | 0.1~6V&plun;1%~3% | √ | |
| 穩壓二管 | 0.1~12V&plun;1%~3% | √ | |
| 電晶體 | 三端測試Vce飽和電壓及β值 | √ | |
| 場效電晶體 | 三端測試Vds,Cds&Rd(on) | √ | |
| 光耦器及繼電器 | 四端測試其導通壓或電阻 | √ | |
| 阻串并聯 | 采用多頻測試及相位分離法(8°~82°) | √ | |
| EC Jet | C電容性鑒別技術/ 并聯EC電容漏件 | √ | |
| TA Jet |
T IC, BGA, 南北橋,SCSI/PCI D Conneor, 開/短路及空焊測試 |
- | |
| 測試功能 | 二級(穩壓)管 | 升壓至15V | √ |
| 電阻(四線式) | 小50mΩ(四線式)&plun;1%~5% | √ | |
| DR Mode | 可測二管或IC漏件及空焊檢測 | √ | |
| 開/短路 | O/S進階參數設定 | 選購 | |
| 二級(穩壓)管 | 新增CV, CVIL, CIVL,測試模式 | 選購 | |
| 電容性漏件 | 二端漏電流 | 選購 | |
| D Mode | 小量測電流1uA | 選購 | |
| PIC Mode | Power IC測試 | - | |
| CDS Mode | 可測發光二管亮度 | - | |
| 按鍵功能 | 配合人工操作檢測按鍵 | - | |
| V Mode | 量測供電后之電壓 | - | |
| I Mode | 量測供電后之電流 | - | |
| Tol Rate | 修正功能 | - | |
| 硬件功能 | 自動蓋章 | 測試P or Fail 自動蓋章設備 | 選購 |
| 監控放置 | 監控放置方位(P與Fail分流) | - | |
| 程序啟動壓床 | I程序啟動時壓床方可動作 | 選購 | |
| 多壓床 | 多或雙壓床系統 | - | |
| 直通率監控 | 當直通率 | - | |
| 軟件功能 | 一般功能 | ICDSheet | √ |
| 板示功能(Board View) | √ | ||
| 連板功能 | √ | ||
| 修改直通率 | 選購 | ||
| 板示自動生成 | 選購 | ||
| 子板選測 | 選購 | ||
| 條形碼控制 | 選購 | ||
| 多連片條形碼控制與識別 | 選購 | ||
| 自動DUT | 選購 | ||
| 測試值存檔(基本測試值欄) | 選購 | ||
| 輸出可測率分析表 | 選購 | ||
| 多連板條形碼檢測條形碼重測 | 選購 | ||
| S(Shop-Floor Information System) | Yi-Tek S(周易) | - | |
| ShineWave S(翔威) | - | ||
| Sajet S(僯) | - | ||
| Off-line S(依客戶需求) | - | ||
| 語言支持 | 支持簡,英,韓等國語言 | 選購 | |
| 匯入他廠文件 | TRI(德律),JIET(捷智) | √ | |
| Adsys&NewSys(系新),BOS360(系統) | 選購 | ||
| SRC(星河),Concord(振華) | 選購 | ||
| OKA, TCON, TC5,TC100 | 選購 | ||
| 匯出檔案 | TRI(德律),TEXT(文字文件) | 選購 | |
| Adsys&NewSys(系新)V5.2X, V6.XX, V8.XX | 選購 | ||
|
大電流 訊號源 (可程序) |
DC電壓 | &plun;10mV~&plun;7.5V或15V | - |
| AC電壓 | 10mVPP~15VPP | ||
| AC/DA電壓 | 10uA~150mA | ||
| 測試頻率 |
120, 1020, 10K, 100KHz, 2MHz(60MHz) 100,1000,10K, 100KHz, 2MHz(50MHz) |
||
| 開機測試 | 在小功率的DUT,可量測其電壓電流 | - | |
| 功率電晶體 | 三端測試Vce飽和電壓及β值 | - | |
| 功率場效電晶體 | 三端測試Vds,Cds&Rd(on) | - | |
| 光耦器及繼電器(高電流) | 四端測試其導通壓或電阻 | - | |
| 振動馬達 | 二端電流法(量測手機之振動馬達) | - | |
| 大電壓訊號源(可程序) | DC電壓 | &plun;30mV~&plun;30V或60mV~60V | - |
| DC電流 | 500uA~100mA | - | |
| 高壓穩壓二管 | 0.1~60V&plun;1%~3%(CVIL) | - | |
| 電信高壓量測 | 電信終端之訊號 | - | |
| I²C Host Adaptor | On Board燒錄(Program write/Verifier) | - | |
| 主處理機(選購) |
CPU: Pentium1V以上/ RAM: 2GB / H.D.D : 80G 顯示器:19"LCD及支撐架 |
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| 操作系統(選購) | Windows XP | ||
| 客戶可自行搭售 |
EPSON TM220PD雙色打印機 開關 ... |
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