Phenom飛納電鏡
飛納臺式掃描電鏡版——智能、、多功能
放大倍數(shù)：20×-100，000×
分辨率：17nm
電子：1500小時CeB6燈絲
抽真空時間：10秒
樣品移動方式：自動馬達樣品臺
樣品定位方式：光學和低倍電子雙重導航
樣品導電性要求：無需噴金，直接觀測緣體
拓展功能：3D粗糙度重建、纖維統(tǒng)計測量，拼圖等
溫控樣品臺，可直接觀測液體
Phenom Pro（飛納臺式掃描電鏡版）是Phenom產(chǎn)品中的型號，在繼承了Phenom第二代（G2）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成優(yōu)質(zhì)圖像、售后等優(yōu)點的同時，電鏡分辨率和圖像質(zhì)量顯著。采用了壽命1500小時的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學顯微鏡，后的光學顯微鏡有聚焦功能，放大倍數(shù)在20-120倍之間，具備明場和暗場兩種模式。
表面細節(jié)豐富的高分辨率照片
1，Phenom（飛納）Pro 為您提供高信噪比、表面細節(jié)豐富的優(yōu)質(zhì)圖像；
2，20×-100，000×連續(xù)放大，分辨率17nm，大景深；
3，傳統(tǒng)電鏡往往通過加速電壓來產(chǎn)生更高的信號，同時由于穿透深度較深，導致表面細節(jié)缺失。低加速電壓電子穿透深度淺，避免樣品被破壞，展現(xiàn)更多表面細節(jié)；
4，探測背散射電子，展現(xiàn)清晰形貌結構的同時，提供豐富的成份信息；CeB6燈絲在樣品表面單位面積內(nèi)激發(fā)的信號約是鎢燈絲的10倍，適合于低加速電壓觀測
表面形貌和成分信息同時展現(xiàn)成份模式：同時給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨
成份模式四分割背散射電子探測器扇區(qū)所得的信號相疊加；形貌模式四分割背散射電子探測器扇區(qū)所得的信號相抵消
樣品杯，30秒快速成像
Phenom（飛納）樣品杯、低真空設計、的真空封鎖技術，
裝入樣品后30秒內(nèi)即可得到高質(zhì)量圖像，為傳統(tǒng)電鏡的1/10左右
直接觀看緣體，無需噴金
Phenom（飛納）采用低真空技術，出射電子與空氣分子碰撞產(chǎn)生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，抑制荷電效應的產(chǎn)生，直接觀測各種不導電樣品（如下圖所示）。
利用降低荷電效應樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數(shù)8倍左右，而且不會影響燈絲壽命，
操作簡便，導航；自動/手動聚焦；自動/手動亮度；自動/手動對比度；自動燈絲居中調(diào)節(jié)；自動馬達樣品臺
光學/電子樣品導航
Phenom（飛納）操作界面。通過點擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦亮度對比度調(diào)節(jié)、旋轉(zhuǎn)等操作。界面右側顯示光學導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區(qū)域間進行切換。
光學導航，帶觀測樣品盡在視野之中，下準確切換樣品，點擊感興趣樣品，即可自動移動到屏幕
環(huán)境適應性高，震
Phenom（飛納）可以放置在幾乎的室內(nèi)環(huán)境當中，無需凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對一體化的設計，震動不會引起三者間的相對運動，使Phenom成像不受震動影響，可放置在較高樓層。
互聯(lián)網(wǎng)遠程檢測
Phenom（飛納）擁有遠程檢測功能，通過網(wǎng)絡，工程師可為您遠程檢測系統(tǒng)、答疑解難，為您提供的保護，讓您的Phenom處于工作狀態(tài)。
豐富的拓展功能選件
適用于不同領域的樣品杯選件
簡單制樣程序
飛納臺式掃描電鏡版——智能、、多功能
放大倍數(shù)：20×-100，000×
分辨率：17nm
電子：1500小時CeB6燈絲
抽真空時間：10秒
樣品移動方式：自動馬達樣品臺
樣品定位方式：光學和低倍電子雙重導航
樣品導電性要求：無需噴金，直接觀測緣體
拓展功能：3D粗糙度重建、纖維統(tǒng)計測量，拼圖等
溫控樣品臺，可直接觀測液體
Phenom Pro（飛納臺式掃描電鏡版）是Phenom產(chǎn)品中的型號，在繼承了Phenom第二代（G2）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成優(yōu)質(zhì)圖像、售后等優(yōu)點的同時，電鏡分辨率和圖像質(zhì)量顯著。采用了壽命1500小時的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學顯微鏡，后的光學顯微鏡有聚焦功能，放大倍數(shù)在20-120倍之間，具備明場和暗場兩種模式。
表面細節(jié)豐富的高分辨率照片
1，Phenom（飛納）Pro 為您提供高信噪比、表面細節(jié)豐富的優(yōu)質(zhì)圖像；
2，20×-100，000×連續(xù)放大，分辨率17nm，大景深；
3，傳統(tǒng)電鏡往往通過加速電壓來產(chǎn)生更高的信號，同時由于穿透深度較深，導致表面細節(jié)缺失。低加速電壓電子穿透深度淺，避免樣品被破壞，展現(xiàn)更多表面細節(jié)；
4，探測背散射電子，展現(xiàn)清晰形貌結構的同時，提供豐富的成份信息；CeB6燈絲在樣品表面單位面積內(nèi)激發(fā)的信號約是鎢燈絲的10倍，適合于低加速電壓觀測
表面形貌和成分信息同時展現(xiàn)成份模式：同時給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨
成份模式四分割背散射電子探測器扇區(qū)所得的信號相疊加；形貌模式四分割背散射電子探測器扇區(qū)所得的信號相抵消
樣品杯，30秒快速成像
Phenom（飛納）樣品杯、低真空設計、的真空封鎖技術，
裝入樣品后30秒內(nèi)即可得到高質(zhì)量圖像，為傳統(tǒng)電鏡的1/10左右
直接觀看緣體，無需噴金
Phenom（飛納）采用低真空技術，出射電子與空氣分子碰撞產(chǎn)生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，抑制荷電效應的產(chǎn)生，直接觀測各種不導電樣品（如下圖所示）。
利用降低荷電效應樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數(shù)8倍左右，而且不會影響燈絲壽命，
操作簡便，導航；自動/手動聚焦；自動/手動亮度；自動/手動對比度；自動燈絲居中調(diào)節(jié)；自動馬達樣品臺
光學/電子樣品導航
Phenom（飛納）操作界面。通過點擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦亮度對比度調(diào)節(jié)、旋轉(zhuǎn)等操作。界面右側顯示光學導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區(qū)域間進行切換。
光學導航，帶觀測樣品盡在視野之中，下準確切換樣品，點擊感興趣樣品，即可自動移動到屏幕
環(huán)境適應性高，震
Phenom（飛納）可以放置在幾乎的室內(nèi)環(huán)境當中，無需凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對一體化的設計，震動不會引起三者間的相對運動，使Phenom成像不受震動影響，可放置在較高樓層。
互聯(lián)網(wǎng)遠程檢測
Phenom（飛納）擁有遠程檢測功能，通過網(wǎng)絡，工程師可為您遠程檢測系統(tǒng)、答疑解難，為您提供的保護，讓您的Phenom處于工作狀態(tài)。
豐富的拓展功能選件
適用于不同領域的樣品杯選件
簡單制樣程序
