檢驗千分尺：
一、測量面的平行度及平面度采用光學(xué)平晶進行檢驗:
光學(xué)平面與絲桿測量面或測砧測量面貼合后，由于測量面的不平度，
使平晶與測量面之間存在空隙，從而產(chǎn)生干涉帶或干涉環(huán)，在測量面的
垂直方向每條干涉帶或干涉環(huán)所代表的平面度誤差為0.3μm.
二、測量面的平行度誤差：
測量范圍上限至100mm的千分尺兩側(cè)量面的平行度采用絲桿螺距的1/3
或1/4的光學(xué)平行平晶來進行檢驗，依次將光學(xué)平行平晶入兩測量面間
轉(zhuǎn)動測力裝置。施加5-10N的力,使兩測量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目
減少至少.
測量范圍大于100mm的千分尺,測量面的平行度可用自準(zhǔn)直儀進行檢
驗.
在距測量邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平行度忽略不計，
三、測量面的平面度誤差：
采用二級光學(xué)平晶檢驗，應(yīng)調(diào)整光學(xué)平晶使測量面上干涉帶或干涉
環(huán)。
測量面不應(yīng)出現(xiàn)兩條以上的相同顏色的干涉環(huán)或干涉帶（測量量面的
平面度，〈0.6μm）
在距測量面邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平面度忽略不計。
