用于微量粉末和薄膜材料測(cè)試;粉末可以回收。少量樣品測(cè)試的準(zhǔn)確性和數(shù)據(jù)重現(xiàn)性。
可以避免少了粉末樣品測(cè)量時(shí)候可能導(dǎo)致的樣品倉(cāng)污染。適合于納米材料和發(fā)光粉體的測(cè)量。
粉末用量約10ul。

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