六寸八寸探針臺probe電性測試
型號： PW-600/PW-800
規(guī)格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y電動移動行程150mm（200mm）
chuck粗調(diào)升降8mm，微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)6～8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域：6寸/8寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
型號： PW-400
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項）
搭配AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)2～4顆
適用領(lǐng)域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學單位等
型號： PW-600/PW-800
規(guī)格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y電動移動行程150mm（200mm）
chuck粗調(diào)升降8mm，微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)6～8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域：6寸/8寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
RF高頻探針臺
東、南、西、北測試臂
搭配美國GGB高頻測試頭
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探針材料：BeCu/Tungsten
