熱電參數測試系統產品特點
擁有知識產權，獲得多項技術。
采用動態法測量Seebeck系數，避免了傳統靜態測量法在溫差測量方面的系統誤差，測量更準確。
熱電偶不直接和樣品接觸，避免出現微型熱電偶斷裂失效的問題 。
爐殼過溫報警，自動斷電保護。
友好的軟件界面，操作簡單，實時顯示采集數據、測試狀態和結果，采用智能化數據存儲及處理算法。
熱電參數測試系統技術參數
型號 | Namicro-3LT |
溫度范圍 | RT~800°C |
溫控方式 | PID程序控制 |
升溫速率 | 50°C/min |
真空度 | ≤50Pa |
測試氣氛 | 真空 |
測量范圍 | 澤貝克系數：S ≥ 8μV/K； 電阻率：0.1μΩ?m ~ 106KμΩ?m |
分辨率 | 澤貝克系數：0.05μV/K； 電阻率：0.05μΩ?m |
相對誤差 | 澤貝克系數 ≤±7%，電阻率 ≤±5% |
測量模式 | 自動 |
樣品尺寸 | 塊體，長x寬：(2~5) x (2~5)，單位mm；高度：10 ~ 18mm |
主機尺寸 | 1000 x 400 x 500，單位mm |
重量 | 75kg |
熱電參數測試系統測試實例
1、康銅樣品三次測試數據與美國AIP標準數值對比
2、Namicro-3L、ZEM-3對N型Bi2Te3測試結果對比
3、Namicro-3L、ZEM-3對P型Bi2Te3測試結果對比
4、Namicro-3L、ZEM-3對MgSi測試結果對比（太原理工提供樣品）
