Advantest Q8344A光譜分析儀具有的顯示、分析和處理功能，它可以對諸如激光二管和LED之類的光發射元件以及光纖和濾波器光元件進行特性測量。
Advantest Q8344A光譜分析儀性能參數介紹：
1、由于Q8344A使用了邁克爾遜干涉儀，它可以進行連續測量。這項功能使它可以輕松地對視頻光盤的激光二管的回光所引起的噪聲抑制進行評估，分析范圍大約為±10mm。
2、采用傅立葉頻譜系統，因而對任何的測量跨度和靈敏度都可以在1.5秒內完成測量。(提供起始波長是0.4μm或更長并 且測量不能同時覆蓋短的波長和長波長)。因此，分析儀適合于測量生產線上的激光二管和LED，并且可以評估光纖和濾波器的傳輸和損耗的特征。
當作為系統組成部分時，分析儀要1.5秒就可以完成觸發，測量和數據輸出。
3、在短波長(0.85μm)時Q8344A提供0.05nm的大分辨率，使它可以以全分解振蕩模式依次對CD和可視光激光二管進行測量。
4、200μm大量輸出可以作為選件使用。當分析波長大于標準光纖量規(GI50μm)的裝置時，可選用此選件。對激光二管分析，推薦標準50-μm規格，對LED分析，推薦選用規格。
Q8344A系列是Advantest銷售的好的光譜分析儀。新系統可以10倍的掃描速度*。
