系統簡介
X射線衍射儀可在大氣中分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密Ｘ射線結構解析等各種分析。
北京培科技術有限公司作為大陸區總代理，現推出德國HUBER快速X射線粉末衍射儀，高的機械加工，大限度地豐富了X射線衍射儀的使用場景，擴大了使用范圍，該系統可分別實現“微量、高壓、高溫、溫、單晶測量”等要求。
LaueX射線高精單晶衍射儀是傳統臺式X射線粉末衍射儀的優化版，通過成熟的工藝技術，配合Laue Camera 801/802，可實現對單晶的高測量。
結構
? Laue Camera 801/802
勞厄法是X射線分析單晶的經典方法。用一個相對簡單的過程，就可以獲得關于晶體對稱性和取向的詳細信息。
HUBER制造的Laue相機可以在光束傳輸和返回兩種模式下工作。兩個薄膜盒可以沿著楔形導軌定位，中心安裝用于晶體樣品精細定位標準測角頭。
Model 801 可以通過適配器800直接安裝到管屏蔽窗,使水平和垂直管方向均可啟用。Model 802在實驗臺上有一個安裝的穩定底座。
技術參數：
楔形導軌[mm]: 200
角度計旋轉范圍[°]: 360
軸向調整范圍 [mm]: ≤14
測角儀頭部尺寸[mm]: 56-70
準直器內徑[mm]: 0.5 / 0.8
薄膜/孔徑 直徑 [mm]: 115 / 8
梁高度802 [mm]: 275 +/- 10
重量 801/802 [kg]: 3 / 5
配件一覽表
序列號 | 產品名 | 功能 |
800 | Camera mount | 照像機架 |
801.011 | Film cutter | 裁片刀 |
801.012 | Polaroid Land Cette adaptor | 適配器 |
801.013 | Adjustment microscope | 顯微調整儀 |
801.014 | Attachment | |
801.015 | Stretching device | |
801.016 | Specimen rotating drive | 樣品旋轉裝置 |
806.011 | Drive motor 24V/AC | 驅動馬達 |
801.011 Drive motor 24V/AC
801.012 Polaroid Land Cette adaptor
801.014 Attachment
801.015 Stretching device
801.016 Specimen rotating drive
?單色鏡
Monochromator 611
Gunier單色器611有一個用于聚焦Johansson-Guinier型單色器晶體的底座。安裝在U形金屬框架內，因此可以很容易地和更換。
多功能外殼具有高定位自由度，這對微調在X射線管光束路徑上的晶體。
為了準確限制x射線束的橫截面，設計了多種孔徑。
單色儀主要用于細聚焦X射線管( 0,4x8mm)的線路側，濾除Kα2 。
Monochromator Crystals 615/616
Guinier 晶體單色器615/616參數
Huber#Anode Kα1【A】 Cryst.hkl2θ【°】
615002 | Cu | 1.54060 | Ge | 111 | 13.640 |
615004 | Cr | 2.28962 | Ge | 111 | 20.517 |
615006 | Fe | 1.93597 | Ge | 111 | 17.238 |
615008 | Co | 1.78892 | Ge | 111 | 15.893 |
615010 | Mo | 0.70926 | Ge | 220 | 10.212 |
615012 | Ag | 0.55936 | Ge | 220 | 8.038 |
615002 | Cu | 1.54060 | Ge | 111 | 13.640 |
615004 | Cr | 2.28962 | Ge | 111 | 20.517 |
615006 | Fe | 1.93597 | Ge | 111 | 17.238 |
615008 | Co | 1.79892 | Ge | 111 | 15.893 |
615010 | Mo | 0.70926 | Ge | 220 | 10.212 |
615012 | Ag | 0.55936 | Ge | 220 | 8.038 |
?附件
Further available components
單色鏡
平面試樣旋轉裝置
X射線發生器
閉式循環冷水機
帶電源的X射線盒
適配670.31 CCD 的商用高溫計
適配670.2/5的目鏡照相機
結語
該系統以Laue高分辨率相機為主要組件，通過在此基礎上搭建的系統，以響應客戶對單晶樣品測量的需求。
