主要特點
頻 率 范 圍 : 1 - 200MHz
完整晶體測試方案
DLD 測量下限低至1nW
符合 IEC60444-11 精準FL 測量
內置存儲 8 通道校準數據
可配 8 通道分路器
頻率微調系統
溫度測試系統
支持單計算機配多臺測試儀
尺寸: 長 212 x 寬 158 x 高 51 mm
主要應用
臺式QC晶體參數測試
寬帶阻抗掃描
高速USB通訊連接方式
支援多種操作系統
自動分選系統
簡易編程, 不需軟件數據庫。
咨詢電話SERVICE LINE
020-85164689
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符合 IEC60444-11 精準FL 測量
內置存儲 8 通道校準數據
可配 8 通道分路器
頻率微調系統
溫度測試系統
支持單計算機配多臺測試儀
尺寸: 長 212 x 寬 158 x 高 51 mm
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寬帶阻抗掃描
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支援多種操作系統
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簡易編程, 不需軟件數據庫。