儀器簡(jiǎn)介：
微米壓入測(cè)試儀 (0.03 - 30N)
微米壓入測(cè)試儀適用于硬質(zhì)薄膜、軟質(zhì)薄膜和塊體材料的測(cè)量。它為您提供精準(zhǔn)與高重復(fù)性的材料硬度和彈性模量測(cè)試結(jié)果。
微米壓入測(cè)試儀可以用于測(cè)量塊狀材料，PVD、CVD硬質(zhì)薄膜和陶瓷薄膜等材料的性質(zhì)。
瑞士CSM儀器公司三十年來致力于為材料、物理、機(jī)械工作者提供先進(jìn)、精準(zhǔn)、全面的材料機(jī)械性質(zhì)測(cè)試儀器、分析咨詢以及測(cè)試服務(wù)。我們的主要產(chǎn)品包括：
測(cè)量材料硬度和彈性模量的納米級(jí)、微米級(jí)儀器化壓入測(cè)試儀（納米壓痕儀, 顯微壓痕儀）；
界定膜基結(jié)合強(qiáng)度、薄膜抗劃擦能力的納米級(jí)、微米級(jí)、大載荷劃痕測(cè)試儀 (Scratch tester) ；
包括真空、高溫以及線性往復(fù)運(yùn)動(dòng)等選項(xiàng)的摩擦磨損測(cè)試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗(yàn)機(jī) ；
簡(jiǎn)便易用的膜厚測(cè)試儀；
用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope) 。
主要特點(diǎn)：
特點(diǎn)
集成CCD光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)
力反饋系統(tǒng)
操作軟件包
符合 ISO 和 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)
選件
共焦顯微鏡
控溫設(shè)備 (-20 - 450°C)
高分辨率CCD光學(xué)顯微鏡
