Helios-PL光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)Χ喾N太陽(yáng)能電池少子壽命進(jìn)行快速二維分析，能夠準(zhǔn)確的測(cè)量和計(jì)算出電池的缺陷分布及密度，同時(shí)準(zhǔn)確反饋結(jié)果以很好的改進(jìn)電池的生產(chǎn)工藝。
　　
　　產(chǎn)品特點(diǎn)：
　　■適用幾乎類型太陽(yáng)能電池：
　　單晶硅片及電池/多晶硅片及電池/薄膜電池/化合物電池
　　■完整的檢測(cè)系統(tǒng)：
　　少子壽命掃描/串聯(lián)電阻掃描/硅片分類/隱裂/暗條件I-V曲線/光照條件I-V曲線
　　■速度快，每片測(cè)試時(shí)間小于1秒
　　■高，能實(shí)時(shí)找到每個(gè)致少子壽命降低的缺陷
　　■可以監(jiān)控和優(yōu)化關(guān)鍵工藝，包括擴(kuò)散、去磷硅玻璃等等
　　■可以在線和離線分析
　　■大的分析軟件，可以分析幾乎的缺陷
　　■先投入先產(chǎn)出，投入產(chǎn)出比遠(yuǎn)高于行業(yè)的1：2
　　■性的產(chǎn)品，未來(lái)的趨勢(shì)所在。
　　
　　技術(shù)參數(shù)：
　　■銦砷鎵傳感器：900-1500nm
　　■測(cè)試尺寸：23mm*23mm~200mm*200mm
　　■像素：752×480pixel
　　■尺寸：2m×2m*2m 重量：150kg
　　■每片測(cè)試時(shí)間<1s.
　　
　　典型客戶：
　　美國(guó)，歐洲，亞洲及國(guó)內(nèi)太陽(yáng)能及半導(dǎo)體客戶。