牛津儀器X-Strata920金鎳測厚儀快速的X射線熒光鍍層厚度測量及材料分析，、率.牛冿 OXFORD X-strata 920，適合：PCB行業，電鍍行業等做精密測試。可測鍍金，銀，銅，錫，及金屬等

金厚測試儀CMI900 利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，過程和質量控制。

CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀（膜厚儀）是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

分析：無需樣品制備，經行業的技術和性，操作簡單，要簡單的培訓，分析三步驟

杰出的分析準確性，在鍍層測厚領域擁有過20年的，鍍層測厚儀X-Strata系列使用大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，質量的同時降。X-Strata系列基于Windows2000中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900/920主機的自動化控制。

特點及優勢

1.測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92；

2.測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線；

3.測量高、穩定性好，測量結果至μin；

4.快速測量，測量時間短，10秒內得出測量結果；

5.可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析；

6.進行貴金屬檢測，如Au karat評價；

7.材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；

8.強大的數據統計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、值、小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖；

9.結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；包含數據、圖像、統計圖表、等；

10.測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統，標準光學放大倍數為30倍；

11.激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦；

12.擁有NIST的標準片；

提供服務及技術支持。