KLA探針式表面輪廓儀

表面輪廓儀簡介：

KLA是全球半導體在線檢測設備市場的供應商，在半導體、數(shù)據(jù)存儲、MEMS、 太陽能、光電子以及其他領域中有著極高的市占率。Alpha-Step" 探針式輪廓儀支持合階高度和粗度的2D及3D(D-600)輪廓掃描，以及翹曲度和應力的2D測量。創(chuàng)新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

表面輪廓儀優(yōu)勢：

探針測量技術的一個優(yōu)點是它是一種直接測量，與材料特性無關。可調節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進JQ測量。通過測量粗糙度和應力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的任何變化。

-500/D-600提供1200 m垂直量測距離，亞埃分辨率以及.03- 15毫克的針壓控制范用。具有廣泛的應用范圍，包括從納米級到毫米級的臺階高度，高分辨率的粗糙度，軟材料和薄膜應力等，使其能夠服務于研發(fā)和生產環(huán)境中的各個行業(yè)。

D-500配有140毫米的手動載臺。D-600配有200毫米的自動載臺,有手動deskew對齊和多達1000個量測位置的可編寫序列軟件功能。

臺階高度重復性

亞埃分辨率及光學杠桿傳感器具有低重量低噪聲的特點。在1微米臺階的高度重復性為5埃。

舉例:

用戶界面控件可以自動聚焦在樣品表面單獨控制光強和相機的亮度、對比度以及高達4倍的數(shù)字變焦。

數(shù)據(jù)采集設置和系統(tǒng)硬件控制顯示在同-界面，以快速進行樣品定位和測量直接保存原始數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)分析無需重新測量

探針掃描:D-500:140mm的掃描載臺支持長達30 mm的單次量測和80mm的拼接功能。D-600:200mm的掃描載臺支持長達55 mm的單次量測和200mm的拼接功能。D-500/D-600垂直測量范圍是1200 um，針壓可低至0.03 mg，可以量測包括薄膜、軟性材料、高臺階、彎曲度和應力等多種材料及應用。

超高清鏡頭:D-500/D-600配備先進的光學系統(tǒng)，包括一個高分辨率5MP彩色相機4倍數(shù)碼變焦和增強的照明控制。

梯形校正:側視鏡頭下的樣品畫面會出現(xiàn)一定程度的扭曲。全新梯形校正功能，可以自動去除扭曲效應。

圓修正:圓弧修正功能可自動修正探針在測量過程中的圓弧運動，極大提高了側壁傾角和臺階寬度量測的JQ度。

3D掃描(D-600)和2D應力(D-500/600選配):三維掃描詳細地展現(xiàn)樣品表面的臺階高度，紋理，和樣品的形貌。使用應力卡盤將樣品支撐在中性位置測量樣品翹曲。然后通過應用Stoney方程，利用諸如薄膜沉積工藝的形狀變化來計算應力.